器件集成和非门电路参数的测试实验报告.doc

集成与非门电路参数的测试 实验目的 TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试 TTL和CMOS与非门的主要参数及测试方法 实验器件 HBE硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表 元器件：74LS00、CD4011 实验内容 测试与非门74LS00的电压传输特性 测量电路原理如图所示，调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和Vo，列表记录Vi和Vo值。根据测试数据画出门电路的传输特性曲线。 电路连线： 实验数据： Vi 0.45 0.73 0.83 1.11 1.28 1.39 1.47 1.58 1.69 Vo 4.44 4.43 4.42 4.24 3.29 2.33 1.52 0.13 0.13 传输特性曲线： 原理： 根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节Vo和Vi的大小从而得出关系曲线。 ＣＯＭＳ与非门电压传输特性曲线与TTL与非门电压传输特性曲线测试方法基本一样。这是将不用的输入端接到电源++VDD(+5V)上即可，不得悬空。下图为用示波器X-Y方式的测试电路，输入信号电压Vi应为+5V正弦直流电压。 电路连线：如上图。 示波器显示： 原理：利用信号发生器产生一个连续信号在电路图中的Vi端输入到电路中，再用示波器的X-Y方式显示电路中的CH1和CH2信号的关系图像，动态测试ＣＯＭＳ与非门电压传输特性曲线。 实验心得 此次实验内容很少，但任然花了好长时间才做出来，而且还是在老师帮助下。示波器调节比较难弄，连线也有些纠结，通过此次实验我更加深入得了解了示波器的使用，初步掌握了TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试。 +5V +5V 14 1 3 2 + Vi - V + Vo - V 7 Vo/V 4.5 4 3.5 3 2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 Vi/V VDD +5V 14 1 CH1 Vi +5.00V 3 2 CH2 7