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实验三 基本门电路逻辑功能的测试
一 实验目的
1 熟悉能主要门电路的逻辑功;
2 掌握基本门电路逻辑功能的测试方法.
二 使用仪器
DZX-2型电子学综合实验装置(简称实验台);双踪示波器;学生万用表.
三 实验原理
1 集成电路芯片介绍
数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式,其引脚排列规则如图1-1。其识别方法是:正对集成电路型号或看标记(左边的缺口或小圆点标记),从左下角开始按逆时针方向以1,2,3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中,电源端Vcc一般排在左上端,接地端(GND)一般排在右下端,如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC,则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门,逻辑图及外引线排列图见图1-1。
2 逻辑表达式:
非门 1-1
2输入端与非门 1-2
4输入端与非门 1-3
或非门 1-4
对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时,输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时,输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路,输入端如果悬空可看做;逻辑1,但为防止干扰信号引入,一般不悬空,可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。对MOS电路输入端不允许悬空。对于或非门,闲置输入端应接地或低电平。
四 实验内容及步骤
1 逻辑功能测试
①与非门逻辑功能的测试:
* 将74LS20插入实验台14P插座,注意集成块上的标记,不要插错。
* 将集成块Vcc端与电源+5V相连,GND与电源“地”相连。
* 选择其中一个与非门,将其4个输入端A、B、C、D分别与四个逻辑开关相连,输出端Y与逻辑笔或逻辑电平显示器相连,如图1-2。根据表1-1中输入端的不同状态组合,分别测出输出端的相应状态,并将结果填入其中。
A B C D Y 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 0 0
②或非门逻辑功能的测试:
将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座,选择其中一个或非门,将其输入端与逻辑电平相连,输出端与逻辑笔相连,如图1-3。根据表1-2中输入端的不同状态组合,分别测出输出端的相应状态,并将结果填入其中。
A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1
③用上述同样的方法测试74LS00、74JS04的逻辑功能。
2 传输性能和控制功能的测试
参照图1-4,从74LS00芯片中选取一个2输入与非门,A输入端接频率为1KHz的脉冲信号,B输入端接逻辑电平开关,输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入
A B Y 1 0 端的脉冲波形和输出端Y的波形,并注意两者之间的相位关系。按表1-3的要求测试,并将结果填入表中。
参照图 1-5, 从74LS02芯片中选取一个2输入或非门,A输入端接频率为1KHz的脉冲信号,B输入端接逻辑电平开关,输出端Y接示波器,将测试结果填入表1-4。
A B Y 1 0
五 实验报告及要求
1 画出规范的测试电路图及各个表格。
2 记录测试所得数据,并对结果进行分析。
3 简述与非门、或非门闲置脚的和处理办法。
思考题
1、TTL器件与CMOS器件在处理不是用的输入管脚上有什么区别?
2、为什么没有要求测量CMOS器件的电流参数?
3、通过本次实验,总结TTL及CMOS器件的特点及使用的收获和体会。
实验一 门电路逻辑功能测试
一、实验目的
了解逻辑箱的结构,熟悉其使用方法;掌握门电路逻辑功能的测试。
二、实验仪器和器材
仪器:DS-1型EDA数字电路实验系统,GDM-8145数字万用表,SS-7802二踪示波器,EE1642B1型函数信号发生器,YB1719A直流稳压电源
器材:74LS00、74LS02、74LS04、74LS08、74LS32、74LS86、74
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