实验二基本门电路逻辑功能的测试.doc

实验二 基本门电路逻辑功能的测试 ?一、实验目的 1．熟悉能主要门电路的逻辑功； 2．掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。 二、使用仪器 DZX-2B型电子学综合实验装置(简称实验台)。 三、实验原理 1 集成电路芯片介绍 主要的门电路包括与非门、或非门和与或非门。在数字电路中广泛应用。无论大规模集成电路多么复杂，但内部也还是由这些基本门电路构成，因此，熟悉它们的功能十分重要。 ? ? ? 数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图2-1。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门、74LS54双二双三输入与或非门，逻辑图及外引线排列图见图2-1（74LS00见实验一中图1-1(d)）。 2.逻辑表达式: 非门 2-1 2输入端与非门 2-2 4输入端与非门 2-3 或非门 2-4 对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看做；逻辑1，但为防止干扰信号引入，一般不悬空，可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。对MOS电路输入端不允许悬空。对于或非门，闲置输入端应接地或低电平,也可以和一个有用输入端连在一起。 四、实验内容及步骤 1．逻辑功能测试 ①与非门逻辑功能的测试： * 将74LS20插入实验台14P插座，注意集成块上的标记，不要插错。 * 将集成块Vcc端与电源+5V相连，GND与电源“地”相连。 * 选择其中一个与非门，将其4个输入端A、B、C、D分别与四个逻辑开关相连，输出端Y与逻辑笔或逻辑电平显示器相连，如图2-2。根据表2-1中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 输入端 输出端 A B C D LED Y 1 1 1 1 灭 0 0 1 1 1 亮 1 0 0 1 1 亮 1 0 0 0 1 亮 1 0 0 0 0 亮 1 ? ? ? ? ? ? ? ? ②或非门逻辑功能的测试： 将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个或非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连，如图2-3。根据表2-2中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 输入端 输出端 A B LED Y 0 0 亮 1 0 1 灭 0 1 0 灭 0 1 1 灭 0 ? ? ? ? ? ? ③将74LS54集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，将其输入端1、2、12、13分别与四个逻辑电平相连，其余输入端接地（不允许输入端悬空），输出端与逻辑电平显示器相连，如图2-4。根据表2-3中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 输 入 端 输出端 3、4、5、 9、10、11 1 2 12 13 LED 6 0 1 0 1 0 亮 1 0 1 1 1 0 灭 0 0 1 1 0 0 灭 0 0 1 0 1 1 灭 0 0 0 0 1 1 灭 0 0 0 0 1 0 亮 1 ④用上述同样的方法测试74LS00、74LS04的逻辑功能。画出实验电路图，并自拟表格记录数据。 ?2．传输性能和控制功能的测试 参照图2-5，从74LS00芯片中选取一个2输入与非门，A输入端接频率为1Hz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的相位关系。按表2-4的要求测试，并将结果填入表中。 输入端 输出端 A B LED Y 0 亮 1 1 闪 0、1交替 参照图 2-6， 从74LS02芯片中选取一个2输入或非门，A输入端接频率为1Hz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器，将测试结果填入表2-5。 输入端 输出端 A B LED Y 0