CCD微机测径实验.ppt

CCD测径实验 背景简介 CCD (charge-coupled device)－电荷耦合器件，是一种新型的固体成像器件，是光电成像领域里非常重要的一种高新技术产品。CCD是用电荷量来表示不同状态的动态移位寄存器，由时钟脉冲电压来产生和控制半导体势阱的变化，实现存储和传递电荷信息的固态电子器件。传统的固态电子器件，信息的存在和表示方式，通常是用电流或电压。而在CCD中，则是用电荷，因此CCD对信息的表达，具有更高的灵敏度。 CCD光电传感器是光电成象领域里非常重要的一种新型的固体成象器件。在工业生产中得到了广泛应用，诸如冶金部门中各种管、线、带材轧制过程中的尺寸测量，光纤及纤维制造中丝径尺寸测量、控制机械产品尺寸测量、分类，产品表面评定，文字与图形识别，传真、光谱测量以及空间遥感等。 实验目的 1. 学习和掌握线阵CCD器件的几种实时在线、非接触高精度测量方法； 2. 学习和掌握测量系统参数的标定方法。 实验仪器 实验原理 一、线阵CCD尺寸测量的基本原理： 线阵CCD测量系统组成如下图所示，整个测量过程包括：成像系统、图像信号输出、二值化处理确定图形轮廓、测定轮廓间的像元数、通过计算或实验确定脉冲当量并按测量公式计算被测尺寸。 二、平行光投影法： 线阵CCD由一系列等距离光敏元构成，当一束平行光透过待测目标投射到CCD器件上时，由于目标的存在，目标的阴影将同时投射到CCD器件上，在CCD器件输出信号上形成一个凹陷。如果平行光准直度很理想，阴影的尺寸就代表了待测目标尺寸，由于光敏元的尺寸在制作时就已经确定，如果设光敏元尺寸为d，那么只要统计出阴影部分的CCD像元个数N，则像元个数与像元尺寸的乘积就代表了目标的尺寸l=Nd。 三、光学成像法： 为光学系统放大倍数。而像的大小l=Nd ，则 l= Nd 。实际测量上考虑到受光学系统畸变等的影响，修正为L=Kl ，K表示每个像元所代表的物方尺寸的当量，它与光学系统的放大倍率、CCD像元尺寸等因素有关。对于一个已选定的CCD器件，可以采用不同的光学成像系统来达到测量不同尺寸的目的，光学系统担负着传递目标光学信息的作用，对CCD成像质量有着十分重要的意义。 四、系统参数标定： 1. 一次标定。标定的方法是：先把一个已知尺寸为Lp的标准模块放在被测目标位置，然后通过计数脉冲，得到该模块的像所占有的CCD像元数Np，从K=Lp/Np可以得到系统的脉冲当量值，K值表示一个像元实际所对应的目标空间尺寸的当量。然后再把被测目标Lx置于该位置，测出对应的脉冲计数Nx，由Lx=KNx可以算出Lx值。这就是一次标定。 2. 二次标定。为了在实测值中去掉系统误差，可以采用二次标定法来确定系统的当量值K。实验表明，被测物体的实际尺寸和Lx对应像元脉冲数Nx之间有Lx=KNx+b，b就是测量值中的系统误差，通过两次标定就可以确定K和b值。其方法是，先在被测位置上放置一已知尺寸为L1的标准块，通过计数电路得到相应的脉冲数N1，然后再换上另一个已知尺寸为L2的标准块，再得到对应的计数脉冲N2，将L1、L2、N1、N2代入Lx=KNx+b可以算得K和b。 实验内容 1. 测量前调整 （1）将仪器与计算机相连，启动软件； （2）光强调节，将平行光源盒上的电源打开，调节旋钮，使光强适中。在屏幕上看到的波形最高点在屏的顶部，并留有较多的起伏毛剌为较合适； （3）光路调节，在原CCD采集盒处放置一张白纸，缓缓升降平行光源，观察白纸上的被测物的像，应基本处于光斑中部； （4）聚焦调节，在测量架上放置一个待测物，前后调节显微物镜与测量物间的距离（即调焦），在屏幕上观察调焦效果。局部视窗显示出曲线边缘的精细结构。边缘越陡直，像元点越少即调焦越正确，调焦完成后就可以开始测量。（软件界面如图） 2. 一次标定法测量物体直径 （1）选取合适的标准物，用千分尺测出准确的直径； （2）执行“系统校准”命令，在软件窗口的对话框中输入标准物的尺寸，并选择明纹或暗纹； （3）在仪器测量架上放上直径为L1标准物，执行“开始采集”命令，得到正确的图形后，用“停止采集”命令冻结图形，得到它的阴影所对应的CCD像元数N1； （4）执行“校准”命令，得到像元的分辨率，数值显示在结果区和状态条里； （5）换上待测物，执行“测径”命令，得到测径的结果，显示在结果区里，或者启动动态连续测径，可得到连续的，随时更新的测量结果,逐次测量数个物体直径。 3. 二次标定法测量物体直径 （1）选择第二个直径为L2的标准物，对它进行一次标定，得到它的阴影所对应的CCD像元数N