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低温物性测量仪 温度范围：-269℃—RT/200 ℃ RT-2400℃ 北京柯锐欧科技有限公司 低温综合物性测量系统 CPMS-4 电学性能：电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数 热学性能：热导率、热膨胀系数、比热等 温度范围：4K-300K （-269 ℃—室温） 低温技术：低温制冷机作冷源，无需消耗液氮/液氦 应用领域：低温热电材料、超导材料、低温负热膨胀/零膨胀等功能材料及其它固体材料低温物性研究 概 述: 本系统采用低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，实现固体材料低温区（4K-300K; -269 ℃—室温） 的电学性能（电导率/ 电阻率，热电势率/塞贝克 Seebeck 系数）和热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等) 测量。 系统设计思想 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系 统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平 台分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便。 基本系统 硬件结构包括：样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、 氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境，以及测量相关的软硬件控制中心。 样品室 样品室连接在样品架组件上，通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空 状态，样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件，再通过测试平台把冷量传递给样 品，使样品降温。样品测量采用样品托的方式。 温度控制 采用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证 了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围：4.0K-300K 连续控温； 温度稳定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K) 。 测量单元 （1）电阻率( 电导率)测量单元 采用标准的四引线法测量直流电阻率。  测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据  全自动测量电阻、伏安特性  能采用 Van Der Pauw 方法测量形状不规则但厚度均匀的样品  样品通过绝缘胶粘贴在样品台上，通过导电胶粘贴测量引线  每次最多可以同时测量三个样品  样品安装过程方便、快捷、可靠 （2 ）热电势率（Seebeck 系数）测量单元 采用微分法测量热电势率/塞贝克 Seebeck 系数。  测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据  全自动控温、测量  样品通过导热胶粘贴在样品台上，通过导电胶粘贴测量引线  样品尺寸灵活，适用于不同尺寸样品的测量  样品安装过程方便、快捷、可靠 （3 ）热导率测量单元 采用绝热稳态轴向热流法测量热导率。  样品室内部多路控温, 最大程度减少样品辐射漏热和样品热端引线漏热  测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据  系统自适应测量过程，适合新型材料物性研究  样品尺寸灵活，适用于不同尺寸样品的测量  全自动的测量过程，操作简单  配备专用样品安装工具，样品安装过程方便、快捷、可靠 （4 ）热膨胀系数测量单元 采用低温应变传感器法测量热膨胀系数。  测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据  全自动控温、测量  样品尺寸灵活，无需制作成长条状或长圆柱状样品，样品只需具备一个大于 5mm×5mm 的平面就可以测试（其它面可以不规则和不平整），最小样品尺寸 可达 5mm×5mm×0.5mm  应变传感器安装于样品试样上  每次最多可以同时测量三个样品  样品安装过程方便、快捷、可靠  可在平面内测量多个方向上的膨胀量  可匹配应用于其他品牌综合物性测量系统 （5 ）比热测量单元 采用热弛豫方法、双 τ 模式比热测量技术测量比热。  在测试温度区间内无级连续控温