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技术文章 MS-2758 利用数字隔离器技术增强工业电 额外隔离用 以提高性能 机控制性能 光电检测器 作者：Dara OSullivan(系统工程师)和Maurice Moroney 图1. 光耦结构 (技术营销经理) ，ADI公司 光耦的最大缺点之一是：LED老化，会使传输特性漂移； 设计人员必须考虑这一额外问题。LED老化导致时序性能 隔离类型简介 随着时间和温度而漂移。因此，信号传输和上升/下降时间 隔离用户及敏感电子部件是电机控制系统的重要考虑事 会受影响，使设计复杂化，尤其是考虑到本文后面要处理 项。安全隔离用于保护用户免受有害电压影响，功能隔离 的问题。 则专门用来保护设备和器件。电机控制系统可能包含各种 各样的隔离器件，例如：驱动电路中的隔离式栅极驱动 光耦的性能扩展也是受限的。为了提高数据速率，必须克 器；检测电路中的隔离式ADC 、放大器和传感器；以及通 服光耦固有的寄生电容问题，该问题会导致功耗升高。寄 信电路中的隔离式SPI 、RS-485 、标准数字隔离器。无论是 生电容还会提供耦合机制，导致基于光耦的隔离器件的 出于安全原因，还是为了优化性能，都要求精心选择这些 CMTI(共模瞬变抗扰度)性能劣于竞争方案。 器件。 磁隔离器(基于变压器)已大规模应用十多年，是光耦合器 虽然隔离是很重要的系统考虑，但它也存在缺点：会提高 的有效替代方案。这类隔离器基于标准CMOS技术，采用 功耗，跨过隔离栅传输数据会产生延迟，而且会增加系统 磁传输原理，隔离层由聚酰亚胺或二氧化硅构成，如图2 成本。系统设计师传统上求助于光隔离方案，多年来，它 所示。低电平电流以脉冲方式通过线圈传输，产生一个磁 是系统隔离的当然选择。最近十年来，基于磁性(变压器传 场，磁场穿过隔离栅，在隔离栅另一侧的第二线圈中感生 输)方法的数字隔离器提供了一种可行且在很多时候更优越 一个电流。由于采用标准CMOS结构，其在功耗和速度方 的替代方案；从系统角度考虑，它还具备系统设计师可能 面具有明显优势，而且不存在光耦合器相关的寿命偏差问 尚未认识到的优点。 题。此外，基于变压器的隔离器的CMTI性能优于基于光 耦合器的隔离器。 本文将讨论这两种隔离解决方案，重点论述磁隔离对延迟 时序性能的改善，以及由此给电机控制应用在系统层面带 线圈1 来的好处。 线圈2 隔离材料 隔离方法 图2. 磁性变压器结构 光耦利用光作为主要传输