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X射线衍射谱线的线形分析 姜传海 上海交通大学材料科学与工程学院 2005 年 7 月;一、绪论 二、衍射谱线的数学表达 三、宽化效应及卷积关系 四、谱线宽化效应的分离 五、不完整晶体结构表征 六、注意事项及应用实例;五、不完整晶体结构表征 1、非晶态材料结构表征 (1) 径向分布函数 (2) 测量实验数据的处理 (3) 混晶态结晶度计算 2、不完整晶体结构表征 (1) 结构参数 (2) 结构表征 (3) 晶粒形状测量 (4) 二维X射线衍射线形分析;1、非晶态材料结构表征 (1) 径向分布函数 非晶态材料的原子排列不是绝对无规则的，其邻近原子的数目和排列是有规则的。 非晶态结构短程有序区的线度约为15?，不存在三维空间的周期性，无法利用X射线衍射法精确测量其原子的排列方式。 非晶材料X射线分析，主要是测量物质X射线散射谱线，确定原子的径向分布函数，描述原子间距分布及配位数等统计信息。; 选择某一原子中心作为原点，定义径向分布函数为 式中ρr 为距原点 r 处单位体积中原子密度。;利用傅立叶变换则得到径向分布函数，即 式中ρ0=N/V是平均原子密度， k=(4πsinθ)/λ， 干涉函数 Ik 可通过从X射线的散射强度求出。; 还常用约化分布函数 Gr=4πr(ρr-ρ0) 来描述非晶态结构，其表达式为 显然，利用干涉函数 Ik 求解 Gr 最为简便，所以一般先计算 Gr ， 再计算 Fr 以及双体分布函数 gr 三个分布函数的关系如下;(2) 测量实验数据的处理 A、实验数据的获得 目前大都是利用X光衍射仪获得非晶系统的散射强度数据。; 按试样的放置方法，衍射方法可分为三种布局，如图所示，即对称背射法、垂直透射法和对称透射法。; 一般采用对称背射或对称透射法，为了提高测试数据的准确度应使用晶体单色器。 单色器最好放在散射束中，也可以放在入射束中。 若无单色器或光源较弱时，也可采用平衡滤波片的方法。 在测量过程中，要求射线源的稳定性好，有足够的强度。 实验时应用短波长的Mo靶或Ag靶特征谱，衍射仪扫描角度应尽量增大。; 由于利用所测强度数据时，是以它为 k=(4πsinθ/λ) 的函数形式，并且 k 越大，最终结果越准确。 用步进扫描法记录散射强度，获得的散射强度 I测 (2θ) 。;B、实验数据的处理 由于实验测得的数据中，可能包含相干散射、非相干散射和其它寄生散射，而仅相干散射中的非独立散射(或称相关散射)部分才与非晶系统中的原子相互配置有关。 所以在利用散射强度计算径向分布函数之前，除作强度曲线校正外，还应事先将其他散射，包括相干散射的独立部分扣除。;(a) 空气散射的扣除 (b) 吸收与偏振校正 (c) 强度数据的标准化 (d) 康普顿散射和多重散射的校正 (e) 径向分布函数的获得; 利用非晶态材料的X射线散射强度曲线，经数据处理得出干涉函数 Ik ， 再经过计算获得约化分布函数Gr ，进而计算出径向分布函数Fr和双体分布函数gr。 考虑到所测得数据中可能包含相干散射、非相干散射和其它寄生散射等， 在计算干涉函数Ik和分布函数之前，必须扣除无关的散射信息，并进行强度的校正。;(a) 约化分布函数 (b) 双体分布函数 (c) 径向分布函数; 径向分布函数 Fr 为近程有序一维描述，是许多原子的统计平均效果。 函数的各峰位置相应某配位球壳的半径，峰下面积表示各配位球壳内的原子数，峰的宽度反映原子位置的不确定性。; 径向分布函数 Fr 曲线上第一个峰下的面积，即表示配位数 Z。 这是非晶态结构中的一个重要参量，测量径向分布函数的目的就是测量配位数。;(3) 混晶态结晶度计算 对于晶态与非晶态结构共存的材料，结晶度定义为晶态部分的质量或体积占材料整体质量或体积的百分比。 利用X射线衍射法测量材料的结晶度，其前提是相干散射的总积分强度仅与原子种类及总数有关，而不受结晶度的影响，即 式中 s=2sinθ/λ，I(s) 为总相干散射强度; 结晶度的表达式为 式中Ic(s)为结晶部分的散射强度 。 在实际应用中，必须从原始测量数据中扣除非相干散射和来自空气的背景散射强度等，同时还必须进行吸收校正、罗伦兹因子及偏振因子校正等。 ; 根据待测样品的X射线衍射谱线，区分出结晶与非晶的线形轮廓，如所示。 区分结晶与非晶线形轮廓的方法有多种，人为因素较大。; 通常是基于两个假设： ①半结晶样品中非晶谱线轮廓与完全非晶材料在形状上相同， ②半结晶样品中两邻近结晶衍射峰相距2θ=3o