s5-4键盘管理与程序设计.ppt

“线反转法”按键检测应用 键盘管理与程序设计 按键的分类 按结构和使用方法的不同，可将按键分为两大类：独立按键和矩阵键盘。 矩阵键盘 独立按键 直接用I/O控制，每个按键独占一个I/O 特点 由行线和列线组成，按键位于交叉点上 互不影响，配置灵活，结构简单 优点 组合灵活，按键数量较多时，节省I/O 按键多时，I/O口浪费严重 缺点 区分和判断按键动作的方法比较复杂 按键不超过8只时 适用场合 按键数量较多时 目 录 独立键盘与消抖 矩阵键盘与扫描方法 逐行逐列扫描法 S1 Vcc P0.7 R1 10K S2 P2.3 (a) (b) 独立按键的常用接法 80C51单片机的两种常见的独立按键接法： I/O口为开漏结构时，需外接上拉电阻，如51的P0口 I/O内部自带弱上拉电阻时，可直接相连，如51的P1、P2、P3口 +E 0V 未按下时 为高电平 刚释放时 出现抖动 刚按下时 出现抖动 按下稳定 后为低电平 实际效果 窄脉冲干扰 刚释放时 出现抖动 按键的“抖动”现象 按键的结构：和电路图中的符号极为相似，它是靠镀银的铜合金簧片在按键柄的挤压下接触而导通，松开后簧片恢复原状而脱离接触断开。 S1 Vcc P0.7 R1 10K “0” “1” 理想效果 按键的抖动：按键在人手指按压/释放簧片的瞬间，因接触不良而产生的反复跳动现象。 “抖动”的脉冲宽度一般在几十到几百微秒，也可能达到毫秒级，若加在运行速度很快的数字电路中将会产生很大的影响。比如将发生“抖动”现象的按键作为数字电路的时钟输入，则每按一次键都会产生一串极不稳定的脉冲。 abcdefgh com1 com2 com3 com4 按键的“抖动”测试原理 编程思路：用按键模拟计数输入信号，用4位LED数码管显示计数值。 实验现象：在理想效果下，每按一次键，I/O口仅检测到1次高/低电平转换，计数加1；在实际效果中，由于“抖动”存在，每按一次键， I/O口检测到多次电平转换，计数好几次。 S Vcc P3.4 R 10K abcdefgh com1 com2 com3 com4 理想效果： 实际效果： 按键的“抖动”测试程序 存放4位计数值 0x7A 0x7B 地址 数据 0x7C 0x7D 0x7E 0x7F 存放将计数值转换成数码管显示的字符码 0x7C 0x7D 0x7E 0x7F ORG 0000H Start: MOV 0x7A,#0x00 ;计数器高2位寄存器0x7A清0 MOV 0x7B,#0x00 ;计数器低2位寄存器0x7B清0 LD_Data: MOV R0,#0x7C ;取显示缓冲区首地址到指针R0 MOV A,0x7A ;取计数器高2位数据 ACALL Split_Display_Byte ;将数据字符送显示缓冲区前2个单元 MOV A,0x7B ;取计数器低2位数据 ACALL Split_Display_Byte ;将数据字符送显示缓冲区后2个单元 0x00 0x00 高4位转换的字符码 低4位转换的字符码 0xC0 0xC0 0xC0 0xC0 Display_Loop: ACALL Scan_Display_Value;调用显示扫描子程序 JB P3.4, Display_Loop ;P3.4是否为0？键未按下，转Display_Loop MOV A, #0x01 ;A取加数1 ADD A, 0x7B ;计数器+1 DA A ;10进制修正指令 MOV 0x7B,A ;回存低2位的运算结果到0x7B CLR A ;清0累加器A ADDC A,0x7A ;带进位加法加计数器高2位数据 DA A MOV 0x7A,A ;回存高2位的运算结果到0x7A JNB P3.4, $ ;检查按键是否松开，P3.4=1 本地循环 AJMP LD_Data ;按键松开，转LD_Data abcdefgh com1 com2 com3 com4 数码管显示： 判断是否有按键按下 0x01 按键的“抖动”测试程序流程图 数码管显示计数 流程图 P3.4=0? N 计数器清0 计数值转换成字符码 计数器+1，调整10进制数 P3.4=1? N Y Y +E K R 1