基于单片机及FPGA的频率特性测试仪.pdfVIP

第17卷第1期 电子设计工程 2009年1月 Electronic Jan．2009 V01．17 No．1 DesignEngineering 基矛单片机和FPGA的频率特性测试仪 张春水．张佳培 (武汉大学电子信息学院，湖北武汉430079) 生扫频信号，再经待测网络实现峰值检测和相位检测。从而完成了待测网络幅频和相频特性曲线的测量和显示。经过 Hz一100 调试，示波器显示待测网络频率范围100 kHz的幅频和相频特性曲线，该系统工作稳定，操作方便。 关键词：频率特性测试仪；直接数字频率合成；幅频特性；相频特性；单片机 中图分类号：TM935 文献标识码：A 文章编号：1006—6977(2009)01—00