第六章 LM3S9B96中文数据手册JTAG部分.pdf

TexasInstruments-AdvanceInformation J TA G 接口 4 JTAG 接口 联合测试行动组(JTAG) 是一个IEEE标准，它定义了数字集成电路的测试访问端口和边界扫描结 构，并且提供了一个标准化的串行接口来控制关联的测试逻辑。TAP ，指令寄存器(IR) 和数据寄存 器(DR) 可用来测试组合印制线路板的互连并获取组件的制造信息。JTAG端口还提供了方法来访问 和控制可测性设计的特性，如I/O管脚的观察和控制，扫描测试以及调试。 JTAG端口由4个管脚组成：TCK，TMS，TDI和TDO 。数据通过TDI 串行传送到控制器，通过TDO 从控制器传送出来。该数据的解析取决于TAP控制器的当前状态。关于JTAG端口和TAP控制器操 作的详细信息，请参考IEEE 标准 1149.1-测试访问端口和边界扫描结构。 Stellaris® JTAG 控制器与植入Cortex-M3 内核的ARM JTAG控制器一起工作，这是通过复用这两个 JTAG控制器的TDO输出来实现的。ARM JTAG 指令选择ARM 的TDO 输出，而Stellaris® JTAG 指 令选择Stellaris® 的TDO输出。复用器由 Stellaris® JTAG 控制器控制，它可以对ARM, Stellaris® , 和未执行的JTAG指令进行综合的编程。 Stellaris® JTAG 模块具有以下特性： ■ IEEE 1149.1-1990 兼容的测试访问端口 (TAP) 控制器 ■ 4位指令寄存器链，用于存储JTAG指令 ■ IEEE 标准指令：BYPASS, IDCODE, SAMPLE/PRELOAD, EXTEST 和INTEST ■ ARM 附加指令：APACC, DPACC 和ABORT ■ 集成的ARM 串行线调试(SWD) – 串行线JTAG 调试端口(SWJ-DP) – Flash 补丁与断点单元(FPB) ，用于实现断点 – 数据观察点和触发器单元(DWT)，用于实现观察点，触发源和系统评测 – 指令跟踪宏单元(ITM) ，用于支持打印形式的调试 – 跟踪端口接口单元(TPIU) ，用于连接跟踪端口分析器 关于ARM JTAG 控制器的更多信息，可查看ARM® 调试接口 V5 架构说明。 186 北京锐鑫同创科技有限公司 2010年9月5 日 TexasInstruments-AdvanceInformation Stellaris® LM3S9B96微控制器 4.1 方框图 图 4-1. JTAG 模块方框图 TCK TAP 控制器 TMS TDI 指令寄存器 (IR) BYPASS 数据寄存器 TDO 边界扫描数据寄存器 IDCODE 数据寄存器 ABORT数据寄存器 DPACC数据寄存器 APA