大斜度井中密度与中子曲线的环境及岩石物理响应研究.pdfVIP

维普资讯 学兔兔 2007年 ·第 1期 测 井 与 射 孔 · 23 · 大斜度井中密度与中子曲线的环境及岩石物理响应研究 A．Mendoza等著 胡刚 译 张铁轩 校 (辽河石油勘探局油建二公司) (辽河测井公司) 摘 要：在直井的复杂岩性地层中，对于核测井利用常规解释方法往往不能得到准确的孔隙度计算 结果。而在大斜度井的砂岩地层中，同样的方法很可能错误评价层界面深度位置及孔隙度。 针对穿越砂泥岩薄互层的大斜度井，本文描述了一种中子和密度测井的环境及岩石物理响应系统敏 感性分析。研究主要聚焦于井眼和地层界面之间的交角所产生的影响，利用普通的源一传感器结构的蒙 特卡罗模拟，经由MCNP码计算得到核测井仪的原始响应。目的是定量计算复杂地层条件对核测井所产 生的影响，如薄互层、井眼相对于地层的大斜度角等。此外，还定量计算了井斜角对垂直分辨率所产生的 偏移。 ‘ 文章特别研究了具有不同层厚的砂泥岩薄互层的情况；将大斜度井的中子密度孔隙度模拟曲线与穿 越同一地层直井的中子密度孔隙度模拟曲线进行了对比分析；探讨了斜井中方位仪沿井周不同位置对垂 直分辨率和层界面探测的影响；最后，展示了一口穿越饱和气砂岩地层的大斜度井的模拟实例。 研究结果表明，在穿越薄层的大斜度井中．围岩对核测井的影响是巨大的。在大斜度井中(井斜角为 7O。和85。)。对于上下泥岩层包围的厚度为30in的砂岩层，密度测量的垂直分辨率可以偏移lO和1lin；类 似地，中子测量的垂直分辨率可以偏移l4和16in。对于井斜角为7O。的大斜度井，方位仪密度测量值的影 响可使层界面探测产生2．4in的偏移量，对中子测量值的影响可达2．8in。上述结果表明，急需一种改进 的解释方法，来精确评价大斜度井中层状地层的孔隙度。 关键词：密度一中子测井仪 薄层评价 大斜度井 核测井 。 在本文中，使用了Mendoza等人于2005年 1 前言 介绍过的普通核测井仪模型，被称作“长角” (Longhorn)核测井仪(LNLT)，来对直井和斜井 现用的密度中子孔隙度测井仪起初是为直井 中的中子密度曲线进行模拟。我们使用蒙特卡罗 设计的；其刻度是在岩石物理特性均匀的刻度井 法(MCNP)对中子和密度测量值进行数值模拟。 中进行的。而复杂地层条件，如薄互层，围岩，侵 模拟考虑具有砂泥岩薄互层的合成地层由直井穿 入，非均质盐侵(Ellis等人，1987)，以及地层相对 过，或由井斜角为70。和85。的斜井穿过。此外， 于井眼(仪器)的几何位置，都会导致用常规解释 还假定饱含水、孔隙度为25pu的均质砂岩地层 方法对中子和密度原始测井曲线得出错误的孔隙 由泥岩包围。我们的目的是利用常规处理技术对 度计算结果。在近泥岩层的斜井中，或仅穿过孔 井眼和地层间的结构，又称井斜角，对密度和孔隙 隙度变化大的砂岩层的斜井中，影响仪器响应的 度曲线计算结果的影响进行评估。 因素有径向探测深度、垂直分辨率，以及沿井眼周 在对原始数据进行处理计算得到最终的密度 边的仪器位置(方位敏感度)。Passey等人于 中子孔隙