校正中子衰减测井井眼和扩散效应的新算法.pdfVIP

维普资讯 ·56· 测 井 与 射 孔 2000年 ·第2期 校正中子衰减测井井眼和扩散效应的新算法p fr／ 。 f MedhatW ．Mickael等著 ／ ．塾堂 。译 ． H f 、)M 辽‘河石油学校 擅 耍 脉冲中子俘获 (PNc)测井作为 日常的测井方法测量地层俘获截面 巳应用几十年．该 方法稳定且精确．然而 ．井眼及扩散对测量的影响是很难确定的．固其不仅需要知道井眼尺寸 t还需 要知道俘获截面． 本文提 出了一种 校正中子衰减测井受井眼和扩散影响的新方法．该方法不用 获知井 眼俘获截 面或水矿化虚 ．它是通过使用在近远探测器时间衰减谱中获得的信息来实现的．对一十探测器的视 地层俘获截面的校正是依据两个探测器时间衰减谱 的不同时问门中相对计数率而建立教学模 型为 基础．该模型的系散是从该模型与来 自不同井眼和地层条件的数据用最-- ／J,,乘法拟合得到的。用 MonteCarlo模拟了很大范围的井下条件 ．从而得到 5000多个数据点使该模型得到优化．在整个地 cu的量级范围内 · 层和井眼俘获截面范围用模型数据测试后t我们发现新算法的精确性在 ·■1 ． 主曩词壁 iE蛀 墅! 俘获截面中子扩散 ’＼ r～[，j 引 言 l 脉冲中子测井仪器测量发出一束快中子后的时间与一个或多个探测器上接收的7射线流 的函数 ，虽然探测器计数率一般可描述为一些指数和 ，但这些指数的衰减常数不等于系统 中 (主要指地层和井眼区域)不同区域的中子俘获截面．这是因为中子从 系统中消失的缘故，而消 失的原因来 自两个方面，一是中子俘获．二是中子扩散 。中子扩散或归因于中子扩散而去 (发生 在单一均质介质中)，或归因于中子在不同区域的内部或外部扩散 。在无限大均质地层中，中子 扩散主要是介质热中子的扩散系数的函数，定义为热中子扩散长度的平方乘 以热中子俘获截 面。可见，扩散效应在具有长扩散长度的介质中尤为重要 ，这些介质一般为被清水或油饱和的 低孔隙度地层．随着水矿化度的增加，中子俘获变成主要机理 ，中子扩散变成次要机理。 在测井环境 中．井眼的俘获截面在扩散程度因井眼内外扩散而引起的地层视俘获截面的 影响上起着重要作用。该情况下 ，中子扩散变成地层和井眼俘获截面及扩散系数的复合函数。 即使在中等水矿化度、高孔隙度的地层．如果井眼俘获截面低 ，扩散效应仍具有一定作用。 扩散效应的另一个复杂性在于其与探测器的位置有关。放在中子源附近的探测器具有正 的扩散效应 ．其倾 向于使视俘获截面增加 。放在远离中子源的探测器具有负的扩散效应，在某 些情况下．视俘获截 面小于固有值 。 过去．人们 已进行了很多研究以描述扩散效应 。对于扩散效应的理论研究及各种处理，已 有一些优秀 的文献 (如Dunn1989，Jenningsl995，Murdochl990，0leson，Randall1978，Smith 1988，及 Schultz1983)。这些研究可划分为三种类型 ：分析型、数值型和经验型。经验方法试 图 收穑 日期I2Oo0一O2一l7 维普资讯 第2期