VLSI测试及可测性设计方法2.ppt

第二章 组合电路测试图形生成算法介绍 第 二 章 内 容 故障模型 通路敏化法 布尔差分法 D算法 伪穷举法 特征分析法 第一节 故 障 模 型 1.固定故障（Stuck-At-Fault） 固定值故障：某一节点（包括输入或输出）的 逻辑值固定在“1”或“0”。 Stuck-At-1：节点逻辑值固定在“1”。 Stuck-At-0：节点逻辑值固定在“0”。 2.固定开路，固定短路故障（Switch-Level-Fault） 固定开路：晶体管一直维持截止状态。 固定短路：晶体管一直维持导通状态。 3.桥接故障（Bridging Fault） 两根或多根信号线连接在一起引起的电路故障。 4. 时滞（延迟）故障（Delay Fault） 门延迟（Gate Delay）：延迟发生在逻辑门上。 路径延迟（Path Delay）：延迟发生在路径上。 检测方法…… 5.冗余故障（Redundancy Fault） 特点1：要么是不可 激活的，要么是无法检测的。 特点2：不影响电路逻辑功能的。 第 二 节 通 路 敏 化 法 异 或 运 算 3．逻辑函数的异或表达式 逻辑函数都可以用两级与或的表达式来描述，如果把逻辑函数表示成若干两两之间至少有一个变量互反的各乘积项之和，那么，利用公式:X1X2xor/X1X3=X1X2+/X1X3就可以把其中的或运算全部用异或运算来替代，即只用异或门和与门来实现任何逻辑。最极端的例子是用最小项来表示的逻辑函数，因为任意二个最小项中至少有一个变量是互反变量，因此可以用两级与／异或电路来描述任意逻辑函数。 公式X1xor0=X1和X1xor1=/X1分别表示将变量与常数0和1作异或运算就可以求原变量和反变量，因此可以得出下述结论：只用原变量（或只用反变量）和与／异或运算就可以表示出任何逻辑函数。 逻辑函数的异或表达形式在可测性设计以及在一些公式的证明中是非常有用的。 4.用卡诺图作异或运算 用公式法来求两个函数的异或值是很繁琐的，但是用卡诺图来做却是异常简单的，具体方法如下: 将表示逻辑函数f1和f2的卡诺图（必须有相同个输入变量）重叠在一起，逐一检查相同位置的最小项情况，如某个最小项包含于f1和f2中，或都不包含于f1和f2中，则异或结果中该最小项为0；如某个最小项只包含于f1和f2中的任意一个（只有一个），则异或结果中该最小项为1。 5．逻辑函数的展开定理 第三节 布 尔 差 分 法 定 义 一阶布尔差分 定 义： 定义了函数f对于Xi的一阶布尔差分后，则可得到诊断故障Xi(s-a-1)和Xi(s-a-0)的测试矢量分别为： 一阶布尔差分的计算公式 举 例 高 阶 布 尔 差 分 一阶布尔差分是用来求单故障测试矢量集的。如果要求多故障的测试矢量集，就必须使用高阶布尔差分的概念。这里主要叙述二阶布尔差分及双故障测试矢量集的求法。更高阶的布尔差分和多故障测试矢量集产生方法可依此类推。 第 四 节 * D 算 法 D 算 法 事实上，要检测或诊断某一个故障往往只需找到其中一个或一些测试矢量就能满足实际工作的需要。D算法就是其中的一种重要方法。罗思（Roth）在1966年提出的D算法对于任意非冗余的组合电路中的故障均能找到某个（某些）故障的测试矢量，而且它的计算方法很容易用计算机来实现。 1. 函 数 的 D 立 方 2. 故 障 D 立 方 在元件E的输出处可产生故障信号D(/D）的最小输入条件叫做故障D立方。其中D表示正常电路输出为1，故障时输出为0，简记为D=1/0；/D则反之，简记为/D=0/1。 如果用B表示正常电路的奇异立方，用a表示故障电路的奇异立方．则有： 3. 传 播 D 立 方 定义：把元件E输入端的若干故障信号能传播至E的输出端的最小输入条件叫做传播D立方。 计算方法： 4. D 驱 赶 定义：逐级将故障信号D（/D）从故障点敏化至可及输出端的过程叫做D驱赶（D drive). D驱赶的具体做法：是将输入端有D(/D）信号而输出值尚未确定的元件（这种元件叫做D激活元件）的传播D立方同测试立方作求交运算，使该元件输出D或/D信号（即将错误信号D或/D驱赶通过该元件）。如果该交存在，说明本次驱赶成功，否则不成功。驱赶过程中的求交运算按下表进行。 5. 蕴 涵 定义：在D驱赶过程中会确定某些线上的值，从而有些元件的输出值已经唯一确定了，此时应把这些值及时确定下来，这个确定那些已经唯一确定值的过程叫做蕴涵 (implication)。 蕴涵的具体求法：是将与新确定值