西大催化剂表征扫描电子显微镜剖析.pptVIP

引言 材料的形貌尤其是纳米材料的形貌是材料分析的重要组成部分。 对于纳米材料，其性能不仅与材料颗粒大小还与材料的形貌有重要关系。 形貌分析主要内容包括：材料的几何形貌、材料的颗粒度、颗粒的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。 续 纳米材料常用的形貌分析方法主要有： 1.扫描电子显微镜（SEM） 2.透射电子显微镜（TEM） 3.扫描隧道显微镜（STM） 4.原子力显微镜（AFM） 四种方法的特点： 1.扫描电镜SEM和透射电镜TEM形貌分析不仅可以分析纳米粉体材料，还可以分析块体材料的形貌。 2.扫描电镜SEM可以提供从纳米到毫米范围内的形貌图像。 3.透射电镜TEM比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束不能穿透。若需对块体样品分析，需对样品做减薄处理。 4.对于更小的颗粒，只能用扫描隧道显微镜STM和原子力显微镜AFM进行分析。 续 5.利用透射电镜的电子衍射能够较准确地分析纳米材料的晶体结构，因此许多纳米材料的研究，都采用TEM作为表征手段之一。 6.扫描隧道显微镜STM主要针对一些特殊导电固体样品的形貌分析，可以达到原子量级的分辨率，仅适合具有导电性的薄膜材料的形貌分析和表面原子结构分布分析，对纳米粉体材料不能分析。 7.原子力显微镜AFM可以对纳米薄膜进行形貌分析，虽比扫描隧道显微镜差，但适合导体和非导体样品，不适合纳米粉体的形貌分