南京大学现代分析中心仪器设备1览表.docVIP

南京大学现代分析中心仪器设备一览表（更新） 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　联系电话：025仪器名称 型号 制造厂商 主要技术指标 主要用途 购置 日期 校内收费 备注 扫描电子显微镜 (SEM) S-3400N II 日本 日立公司 放大倍数：530万倍； 二次电子分率：3 nm在30 kV下（高真空模式）； 背散射分辨率：4 nm在30 kV下（低真空模式） JEM-2100（HR） 日本 JEOL公司 点分辨率：0.23nm 晶格分辨率：0.14nm 放大倍数：50－1500000 样品台：侧插式 可对固体的内部微结构和电子衍射进行分析，主要用于金属、纳米材料、生物、矿物样品的研究 2008.9 常规： 100元/个 高分辨测试：200元/个 X射线衍射仪 (XRD) X’TRA 瑞士 ARL公司 输出功率：2.2KW 测角范围（2θ）0.5o~135o； 测角准确性 ≤ 0.01o； 测角重复性 ≤ 0.001o； 测角复现性 ≤ 0.002o； 分辨率（半高宽）≤ 0.07o/PC 荷兰Enraf Noius 公m 各圆角度读数精确度优于0.015o 各圆角度测量重复度优于0.005o 测定晶体分子的三维空间结构单晶晶体结构解析 适用于能形成单晶的物质 400元/个 X射线荧光光谱仪 (XRFS) ARL9800XP╋ 瑞士 ARL公司 X光管功率：4.2 KW； 电压：60 KV（最大）； 电流：140 mA（最大）； 稳定性：0.1%地质、地理海洋、环保监测、工业与化工产品、电子材料、金属材料及原材料等样品元素含量的常量微量检测ruker公司 磁场强度：最高1.48T（磁极距72mm）, 最高1.90T(磁极距50mm) 频段：X波段及Q波段 灵敏度：1.6×1010△B自旋 分辨率： 检测样品中含不成对电子的波谱学方法，提供物质结构信息 JY HR800 法国 JOBIN　YVON公司 光谱范围：200 1000 nm； 最低频率：30 cm-1分辨率：1 cm-1在546 nm1800 gr/mm）； 空间分辨率：1 μm 在XY平面2 μm（在Z平面光谱范围（近中远红外）：11000~20 cm-1；分辨率：0.09 cm-1；波数精度：0.01 cm-1；透光精度：0.07% T；信噪比（峰-峰值，1分钟测试）：33000:1 由物质的红外光谱识别其含有的化学结构官能团，从而确定化合物的类型和结构，根据官能团在某一区域的特征吸收带的强弱可进行光谱定量分析Vario MICRO 德国Elementar公司样品分解温度950~1200℃；可分析元素C、H、N、S、O； 测量误差C、H、N≦0.3%；S、O≦0.5% 进行有机和部分无机化合物C、H、N、S、O元素的定量分析，用于化合物分子结构的鉴定、确认化学成分分析 Pyris 1　DSC 美国 PE公司 温度范围：-170~725oC；灵敏度：0.2 μW；扫描速率：0.01500oC/min 测量样品热焓、质量、温度和动态力学性质在程控温度下的连续变化，适用于研究材料和体系的性质、成分、结构、相变和化学反应 2001.4 单次常规扫描：60元/个 单次低温扫描：80元/个 热失重(TGA) Pyris 1　TGA 美国 PE公司 温度范围：室温00oC；灵敏度：0.2 μW；扫描速率：0.01500oC/min 2001.4 60元－80元/个 差热分析(DTA) DTA7 美国 PE公司 温度范围：室温~1600oC；准确度1%，升温速率0.1~100oC/min 2001.4 60元－100元/个 动态热机械(DMTA) DMTA Ⅴ 美国 流变公司 模量范围：103~1012 Pa； 频率范围：0.001~200 Hz； 温度范围：-150~600oC； 模式：弯曲、拉伸、压缩、剪切 2002.3 100元－200元/个 X射线电子能谱仪（XPS）（1）X射线光电子能谱（XPS）α，清洁Ag样，Ag3d5/2；大面积XPS，FWHM ≤ 1.0 eV时，灵敏度 ≥ 1,000,000 cps；20 μm, FWHM ≤ 0.60 eV时，灵敏度 ≥ 15,000 cps；成像XPS，最佳空间分辨率 ≤ 10 μm；真空度：≤×10-10 mbar； （2）电子能谱（）分辨率（）≤（）≥ 。对固体样品表面进行定性和定量分析，还可以对样品表面原子的化学态以及分子结构进行分析研究（ICP-OES）OPTIMA5300DV 美国PE公司 波长范围：165~780 nm；光学分辨率：≤ 0.007 nm (at 200 nm)；检测下限：0.00X~0.Xmg/；精度（RSD）