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以太网单板丢包与晶振的关系 问题现象： SFE4B单板是II型机上的4端口100M以太网光接口板。用户端口流量测试框图如下： 图1：SFE4B单板用户端口测试 板内50MHz时钟是用于MII接口处理的时钟，100M时钟是以太网交换芯片内部工作时钟。 当测试SFE4B用户端口的时候，发现有些单板丢包现象严重。假设以太网测试仪IXIA400的频率是比较精确的50MHz时钟。而单板50MHz晶振频率或者100M晶振都是50ppm精度，如果时钟有偏差的话，可能导致丢包现象发生。 首先怀疑100MHz时钟，更换了晶振，包括25ppm的晶振，发现现象完全相同。说明丢包与100M内部工作时钟基本无关。 但如果更换50MHz时钟的话，有比较大的改善。说明丢包与50M接口时钟有很大关系。利用频率计对单板50M晶阵进行了测试，测试结果如下： 1）一块单板两个用户端口间发包，100%的100M端口速率；发1亿个包，包长度固定为64Byte，包内容固定。 单板 测得50MHz晶振实际频率 端口丢包数量 #1 50.000;170;0 两端口均不丢包 #2 50.000;083;0 两端口均不丢包 #3 49.999;930;0 两端口均不丢包 #4 49.999;700;0 Port1-188；Port2-187 #5 49.999;673;0 Port1-336；Port2-335 #6 4