俄歇电子能谱分析原理.pptVIP

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  • 2017-06-14 发布于北京
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电子能谱学 第7讲 俄歇电子能谱原理 朱永法 清华大学化学系 2005.11.7 俄歇电子能谱 俄歇电子能谱的原理 俄歇电子能谱仪 俄歇电子能谱的实验方法 俄歇电子能谱的应用 俄歇电子能谱原理 俄歇电子的发现 俄歇电子能谱的发展 俄歇电子能谱的重要性 俄歇电子能谱的应用领域 俄歇电子能谱的建立 1925年Pierre Auger就在Wilson云室中发现了俄歇电子,并进行了理论解释; 1953年J.J.Lander首次使用了电子束激发的俄歇电子能谱(Auger Electron Spectroscopy, AES)并探讨了俄歇效应应用于表面分析的可能性 1967年在Harris采用了微分锁相技术,使俄歇电子能谱获得了很高的信背比后,才开始出现了商业化的俄歇电子能谱仪 1969年Palmberg等人引入了筒镜能量分析器(Cylindrical Mirror Analyser,CMA),使得俄歇电子能谱的信背比获得了很大的改善 最近10年,俄歇电子能谱适应纳米材料的特点,6nm空间分辨率; 俄歇电子能谱的特点 俄歇电子能谱可以分析除氢氦以外的所有元素 ,是有效的定性分析工具; 俄歇电子能谱具有非常灵敏的表面性,是最常用的表面分析手段,检测深度在0.5-2nm;检测极限约为10-3原子单层。 采用电子束作为激发源,具有很高的空间分辨率,最小可达到6nm。 可进行微区分析和深度分析

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