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Confidential Cpk知識介紹 DG CE 2013/02/05 CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。CPK值越大表示品质越佳。CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数 CPK=﹛公差-2*(制程中心-规格中心)﹜/6δδ=R平均值除2.33(2.33是通用常数，根据样本的大小来决定)Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。  * * * * * 試行狀況 分析與建議 : 1, SIP在新材料開發及廠商評鑒稽核方面收獲很少; 2,新材料開發反映了CE技術能力前瞻性差 , 需要BG給予指導; 3,新廠商評鑒和稽核反映了我們缺乏有效的執行工具 , 按照不同材料別結合SIP等建立專業的Check List , 作為執行的工具; 4,主動材料相對比較復雜 , 如何增強和FA LAB結合增強分析能力是必須努力的; 5,機構材料相對簡單,但是必須保証量產穩定性並且將量產參數同時在零件承認時管制. 　 A.新材料開發 B.新材料承認 C.新廠商評鑒 D.廠商稽核 E.零件不良分析 F.技術支持 Total 電子 1 10 0 0 8 1 20 執行狀況-DG 料號編碼 材料名稱 等級 升級計劃 變更內容 使用收獲 范圍 00X 01X 02X CF/MF/MOF CEMENT Resistor C N/A N/A 1,在使用插件電阻時，在無高度限制的情況下盡量選取雙KINK以避免單KINK出現的無線尾問題（幾種：DPS-300AB-9 P/N：0143159400 描述：此料為單KinK，出現無線尾客訴） E 03X 04X CHIP Resistor C B 1.增加CS低阻值電阻端電極與layout匹配內容 2.電阻Crack通過BendingTest可考量電阻承受應力的能力 1.機種：GPS-350JB A P/N:0361726501 描述：阻值漂移導致OCP不良 2,機種：DPS-400-8A P/N:0311259006 描述：測顆電阻在幾種上使用一年半左右會出現電蝕，原因保護層未能起到防護作用導致濕氣進入 ,此不良可以通過做耐濕負荷試驗可以驗證。保護層的薄弱環節在Coating、Glass、以及端電極部位金屬與非金屬結合面位置 3..機種：DPS-1200FB-1 P/N：0391600202 描述：材料在產線出現Crack導致電阻OPEN，通過做Bending test 驗證出其耐bending的能力不符合規格。 E E E 05X WW Resistor C N/A 阻值(100mohm)時，確認廠商是否能否生產TVDK.； DPS-400AB-22 A,阻值82m歐姆的繞線電阻，因阻值比較小，線比較粗，導致本體大，模具在打彎角時，會導致coating層損傷無法做TVDK腳型。 A 執行狀況-DG 料號編碼 材料名稱 等級 升級計劃 變更內容 使用收獲 范圍 08X fuse C N/A 確認是否適合臥式平貼過wave solder。 DPS-625AB A P/N,0841111113過錫爐後open,原因是conque的pico fuse不適合平貼過錫。 E 09X NTC PTC Varistor C N/A NA NA N/A 110X Y cap B N/A 直腳編帶的尺寸，漆腳的尺寸定義為1.3mm *1.3mmMax. N/A N/A 14X Aluminum Electrilytic Capacitor B N/A NA 承認冠坤LX SERIES 時， 缺少SIP信賴性要求測試項目: 1. Temperature characteristicElectrical B 15X MLCC B N/A 1.使用在高壓 (跨接橋式兩端 Bulk 兩端 PFC diode 兩端及 MosFET D S pin 等)之電容如需使用 SMD 元件時必須轉換