材料分析方法 期末考试总结.docVIP

材料分析方法 x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。 相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。 吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。 荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X射线，二次X射线）。 俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。 光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。 滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。 掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。 衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d=λ/2,说明只有间距大于或等于X射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。 温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。 物相定性分析的原理：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反映。尽管物质的种类有千千万万，但却没有两种衍射花样完全相同的物质。某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。 如果不仅要求鉴别物相的种类，而且要求测量各物相的相对含量，就必须进行定量分析。物相定量分析的依据：各相的衍射线的强度随该项含量的增加而提高。由于各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而需加以修正。 非晶态物质最主要的特征是短程有序，长程无序。非晶态与晶态结构的主要区别为长程无序。结构均匀，各向同性也可视为非晶态材料的特征。非晶态结构属于亚稳结构，因其自由能总较晶态为高，故有自发向晶态转化的趋势。非晶物质的衍射图有少数漫散射峰组成，可利用此特征来鉴别物质属于晶态还是非晶态。 物体内应力引起衍射峰如何变化：（1） 第一类内应力，宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。（2） 第二类内应力，其衍射效应主要是引起线形的变化。（3） 第三类内应力，此类应力的存在使衍射强度降低。 X射线法通过测量弹性应变求得应力值。 电子波的有优势：电子波的波长要比可见光小5个数量级，可以明显提高显微镜的分辨率。 透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是电磁透镜。 像差：分两类，即几何像差和色差。几何像差是因为透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的。几何像差主要指球差和像散。色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。（1） 球差，即球面相差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。可以矫正。（2） 像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。可以用消像散器来校