模拟集成电路的测试节点选择 - 电子与信息学报.PDFVIP

、 第 卷第 期 电 子 与 信 息 学 报 勺 年 月 模拟集成 电路 的测试节 点选择 孙秀斌 陈光 祸 谢永 乐 子 大学 化工程学院 电 科技 自 成都 动 , , 引言 随着微 电子技术 的快速发展 , 集成 电路测试 已成为其设计和制造过程 中的一个 非 常重要 的 。 。 于 , 测 已 动 于 和 混 , 至 部分 对 数字器件来说 其 试方法 完全 自 化 但对 模拟 合信号器件来说 今 。 尚缺 乏有效和 系统化 的可测 性方法和工具 川 为 了降低测试成本 , 必须寻求最佳 的测试节 点或 。 测试矢量集 , 而可测 性测 度则 给我们提供 了一个量化 的指标 以便 能够 比较不 同的可测性方法 。 可测性测 度被定 义为 网络元件值 的可解性 ,