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基本概念题 * 基本概念题 5、透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？ 答：透射电镜主要由三大系统构成，电子光学系统、成像系统、观察记录系统。其中电子光学系统是其核心，其他系统为辅助系统。 * 基本概念题 6、透射电镜中有哪些主要光阑？分别安装在什么位置？其作用如何？ 答：主要由三种光阑。 聚光镜光阑。在双聚光镜系统中，该光阑安装在第二聚光镜下方，主要起限制照明孔径角的作用； 物镜光阑。安装在物镜后焦面，主要提高像衬度，减小像差，进行暗场成像； 选区光阑。安装在物镜的像平面位置。主要对样品进行微区选定衍射分析； * 基本概念题 8、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？ 答：试验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6的材料作靶材的X射线管。 选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的材料依靶材而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。 分析以Fe为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们分别相应选择Fe或Mn为滤波片 * 基本概念题 10、电磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？ 答：像差分为球差、像散、色差。 球差是电磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的。通过增大透镜的激励电流可减小球差。 像散是由于电磁透镜的周向磁场为非旋转对称引起的，可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿。 色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的，稳定加速电压和透镜电流可减小。 * 基本概念题 13、何为波谱仪和能谱仪？比较波谱仪和能谱仪的优缺点。 波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器 能谱仪：用来检测X射线特征能量的仪器 EDS优点： 能谱仪探测X射线的效率高； 能谱仪可以很快测得定性分析结果、波谱仪只能逐个测量； 结构简单、稳定性和重复性很好 能谱仪不用聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适合于粗糙表面的分析工作 * EDS缺点： 能谱仪分辨率低 能谱仪只能分析原子序数大于5的元素；而波谱仪可测定原子序数4-92间所有元素 能谱仪的探头必须保持在低温态，因此必须时刻用液氮冷却 * 基本概念题 14、什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？ 光电效应是指当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子被激发，产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪，对材料物质的元素组成等进行分析。 * 基本概念题 19、作图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像。 答：设薄膜有A、B两晶粒。B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件，或B晶粒内满足“双光束条件”，则通过(hkl)衍射使入射强度I0分解为Ihkl和I0-Ihkl两部分。 A晶粒内所有晶面与Bragg角相差较大，不能产生衍射。 在物镜背焦面上的物镜光阑，将衍射束挡掉，只让透射束通过光阑孔进行成像（明场），此时，像平面上A和B晶粒的光强度或亮度不同，分别为： IA≈I0 IB≈I0-Ihkl * B晶粒相对A晶粒的像衬度为： 明场成像：只让中心透射束穿过物镜光阑形成的衍衬像称为明场像。 暗场成像：只让某一衍射束通过物镜光阑形成的衍衬像称为暗场像。 * * 基本概念题 20、何为晶带定理和零层倒易截面？说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系。 答：晶体中，与某一晶向[uvw]平行的所有晶面(hkl)属于同一晶带，称为[uvw]晶带，该晶向[uvw]称为此晶带的晶带轴，满足晶带定理：hu+kv+lw=0。 取某点O*为倒易原点，则该晶带所有晶面对应的倒易矢（倒易点）将处于同一倒易平面中，这个倒易平面与Z垂直。由正、倒空间的对应关系，与Z垂直的倒易面为(uvw)*，即[uvw]⊥(uvw)*。因此由同晶带的晶面构成的倒易面就可以用(uvw)*表示，且因为过原点O*，称为零层倒易截面(uvw)* *