傅里叶变换特性matlab仿真38.docVIP

3-23 1 题目要求 已知序列x(n)={1, 2, 3, 3, 2, 1}。 　　1） 求出x(n)的傅里叶变换X(ejω)， 画出幅频特性和相频特性曲线(提示： 用1024点FFT近似X(ejω))； 　　2） 计算x(n)的N（N≥6）点离散傅里叶变换X(k)， 画出幅频特性和相频特性曲线； 　　3） 将X(ejω)和X(k)的幅频特性和相频特性曲线分别画在同一幅图中， 验证X(k)是X(ejω)的等间隔采样， 采样间隔为2π/N； 　　4） 计算X(k)的N点IDFT， 验证DFT和IDFT的惟一性。 2 题目分析 （1） 题用1024点DFT近似x(n)的傅里叶变换。 （2） 题用32点DFT。 （3） 题由图（e）（f）可验证。 （4） 题图(g) 验证了IDFT的惟一性。 3程序源码 clear all;close all; xn=[1 2 3 3 2 1]; %输入时域序列向量x(n) N=32;M=1024; Xjw=fft(xn,M); %计算xn的1024点DFT,近似表示序列的傅里叶变换 Xk32=fft(xn,N); %计算xn的32点DFT xn32=ifft(Xk32,N); %计算Kk32的32点IDFT %以下为绘图部分 k=0:M-1;wk=2*k/M; %产生M点DFT对应的采样点频率(关于π归一化值) subplot(3,2,1);plot(wk,abs(Xjw)); %绘制M点DFT的幅频特性图 title((a) FT[x(n)]的幅频特性图);xlabel(ω/π);ylabel(幅度) subplot(3,2,3);plot(wk,angle(Xjw)); %绘制x(n)的相频特性图 line([0,2],[0,0]) %画横坐标轴线 title((b)FT[x(n)]的相频特性图); xlabel(ω/π);ylabel(相位);%axis([0,2,-3.5,3.5]) k=0:N-1; subplot(3,2,2);stem(k,abs(Xk32),.); %绘制64点DFT的幅频特性图 title((c)32点DFT的幅频特性图); xlabel(k);ylabel(幅度);axis([0,32,0,15]) subplot(3,2,4);stem(k,angle(Xk32),.); %绘制64点DFT的相频特性图 line([0,32],[0,0]) %画横坐标轴线 title((d)32点DFT的相频特性图) xlabel(k);ylabel(相位);axis([0,32,-3.5,3.5]) figure(2) k=0:M-1;wk=2*k/M; %产生M点DFT对应的采样点频率(关于π归一化值) subplot(3,2,1);plot(wk,abs(Xjw)); %绘制M点DFT的幅频特性图 title((e) FT[x(n)]和32点DFT[x(n)]的幅频特性);xlabel(ω/π);ylabel(幅度) hold on subplot(3,2,3);plot(wk,angle(Xjw)); %绘制x(n)的相频特性图 title((f)FT[x(n)]和32点DFT[x(n)]的相频特性); xlabel(ω/π);ylabel(相n)]位); hold on k=0:N-1;wk=2*k/N; %产生N点DFT对应的采样点频率(关于π归一化值) subplot(3,2,1);stem(wk,abs(Xk32),.); %绘制64点DFT的幅频特性图 subplot(3,2,3);stem(wk,angle(Xk32),.); %绘制64点DFT的相频特性图 line([0,2],[0,0]);n=0:31; subplot(3,2,2);stem(n,xn32,.); title((g)32点IDFT[X(k)]波形); xlabel(n);ylabel(x(n)); 4 输出如图 3-25 1题目要求 已知序列h(n)=R6(n), x(n)=nR8(n)。  　1） 计算yc(n)=h(n) 8 x(n)；  　2） 计算yc(n)=h(n) 16 x(n)和y(n)=h(n)*x(n)； 　3） 画出h(n)、 x(n)、 yc(n)和y(n)的波形图， 观察总结循环卷积与线性卷积的关系。 2题目分析 见图（b）和图(c) 可分析，循环卷积为线性卷积的周期延拓序列的主值序列； 当循环卷积区间长度大于等于线性卷积序列长度时，二者相等。