一种高性能数字电路板测试系统设计.pdfVIP

第 26卷第 3期 宁德师范学院学报(自然科学版) V01．26 № I3 2014年 8月 JournalofNingdeNormalUniversity(NaturalScience) Aug．2014 一 种高性能数字电路板测试系统设计 安玲玲 (闽南理工学院 电子与电气工程系，福建 石狮 362700) 摘要：利用电子仪表测试数字电路板的传统方法存在很多缺点，提出一种通用的高性能、自动化数字电路 板测试系统．该系统在测试的速率、故障判断准确性以及系统智能化、自动化方面都有明显提升，同时还提高了 故障判断的准确性．主要完成了系统下位机硬件电路的设计，经过现场调试与验证，实现了预期设计指标． 关键词：下位机；性能测试 ；FPGA 中图分类号：TP391 文献标识码 ：A 文章编号：2095—2481(2014)03-0239-04 社会信息化高速发展的今天，对数字电路集成度、复杂性、准确性等指标有着非常高的需求．作为电 子设备的基本器件，数字电路板的性能对系统整体的影响至关重要．我国很多部门目前所用高精电子设 备当中的数字电路板都是从国外引进，其功耗、性能、集成度等参数标准非常高，这些电路板一旦发生故 障，以国内当前现有的测试系统的技术指标与功能水平，是无法有效地实现对其性能的准确测试和检测 故障，直接影响到整个设备的正常使用．因此，本文提出一种通用的高性能数字电路板测试系统，对系统 下位机硬件电路进行了重点研究与设计． 1系统总体设计 1．1系统主要技术指标 本设计的系统主要技术指标见表1． 表 1 系统主要技术指标 1．2系统结构与工作原理 最高测试频率 数字电路板测试系统的作用主要是 测试电平范围 — 6V～+9V 通过测试数字电路板来判定其性能正常 可编程电平步长 10oMv 与否、验证其参数指标是不是与实际需求 测试通道数 256路 相符合，以实现对数字电路板的检修、维 单通道输出电流最大值 50mA 护．图1为本设计的系统下位机总体结构． 单通道存储深度最大值 lMBits 其工作原理为：首先，使用者对通过 可编程存储深度步长 128Bits 在上位机设置测试电平、频率、波形等参 数，完成系统的初始化，再经PXI桥接卡发 输入测试状态 高电平、低电平、屏蔽 送测试向量，测试向量在发送控制模块的 输出测试状态 高电平、低电平、高阻 作用下被暂时保存在发送缓存模块，等到 本次测试向量接收完毕之后，通过发送调理模块送至被检测的数字电路板 ，再经接收调理、控制模块的 作用下暂存至接收缓存模块，最后经由PxI桥接卡集中送至上位机．使用者只需将测试过程中的发送向 量与数字电路板产生的响应向量加以分析，就能对数字电路板的性能正常与否以及参数有没有达到实 际需求标准加以判定． 收稿 日期：2014-06—28 作者简介：安玲玲(1980一)，女，讲师．E—mail：640021660@qq．corn 基金项目：福建省中青年教师教育科研项 目资助 (JB13242)． · 240· 宁德师范学院学报(自然科学版)