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- 2017-06-15 发布于北京
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三、非平衡载流子的产生与复合 表面复合: 直接复合间接复合只涉及材料体内的复合过程和寿命。实际在材料表面也存在复合过程,在材料表面常常存在各种复合中心,所以表面复合的本质也是间接复合。 实验测得表面寿命值低于体内寿命值,由于存在表面复合,能使晶体管小注入电流放大系数下降,反向漏电增大,对晶体管的稳定性、可靠性、噪声都有严重影响。 三、非平衡载流子的产生与复合 其中Dh为空穴扩散系数,?p为空穴的寿命。得到方程的解,即为非平衡空穴浓度的分布: Lh=(Dn?p) 1/2为非平衡空穴扩散长度,标志空穴浓度降至1/e所需的距离。 非平衡载流子的的扩散运动: 由于非平衡载流子一般是靠外部条件的作用而产生的,因而在半导体中各处的浓度不像平衡载流子那样是均匀的。以光注入为例,设以稳定的光均匀照射半导体表面,光只在表面极薄的一层产生非平衡载流子,由于浓度梯度的作用,对于N型样品,非平衡的空穴将向材料内部扩散,并形成稳定的分布,根据一维的连续性方程: 三、非平衡载流子的产生与复合 对非平衡电子的扩散有 其中 Ln=(Dn?n) 1/2为非平衡电子扩散长度,Dn为电子扩散系数,?n为电子寿命。 载流子扩散系数D与迁移率?遵从爱因斯坦关系: 而Lh、Ln也是半导体的一个重要参数,是有关器件设计、提高性能必须考虑的因素。 非平衡载流子的的扩散运动 四、半导体的界面特性 如果在
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