场地校准误差对平面近场测试结果的影响分析.pdfVIP

空间电子技术 52 SPACEELECIRONIC’IECHNOL0GY 2014年第 1期 场地校准误差对平面近场测试结果的影响分析① 刘灵鸽，崔 雷 (中国空问技术研究院西安分院，西安 710000) 摘 要：文章讨论了平面近场场地校准误差对天线测试结果的影响及修正方法，并给 出了建议场地校准精度。 关键词：近场测试；场地校准误差 D o I：10．3969／j．issn．1674-7135．2014．01．012 O 引言 度 ，得到被测天线的最终安装状态，则场地的校准 天线平面近场测试场给出的是测试坐标系下的 误差为( ，a，)。 天线各项参数。场地校准的目的是把被测天线的辐 Z 射轴指向扫描架，与扫描架法线平行，同时建立测试 坐标系和预先规定好的卫星或天线坐标系的关系， 使得测试坐标系下的输出结果可以精确的转换到预 先规定好的卫星或天线坐标系下。 场地校准的过程是不断调整被测天线相对于测 试场地的安装状态，采用光学i受4量装置，使被测天线 处于指定的坐标系下。考虑到测试效率，光学校准 后被测天线的最终安装状态和理想状态并不完全一 致，两种状态不同会带来最终电性能测试结果的不 图1 测试坐标系及天线坐标系 一 致。仅研究两者之间的关系。 3 极化分量的坐标变换 1 测试坐标系及天线坐标系的定义 采用 ludwig．3的极化定义 ，在测试坐标系下 近场测试的测试结果是在测试坐标系(，Y，) 下给出的，测试坐标系的z轴垂直于扫描平面，指向 输出电场E主极化E 和交叉极化分量E 的测试结 扫描架方向，Y轴垂直地面向上。 果为： 天线坐标系记作( ，Y，z)，它是被测天线最终 E = E。 。 e +Ee (1) 安装状态下的天线坐标系，最终需要的是该坐标系 而同时电场E又可表示为2个正交分量 和 下的测试结果，如图1所示 。 的合成： 2 场地校准误差的定义 E=E日0+E咖 (2) 通过式(3)和式 (4)可以获得电场的直角坐标 在场地校准时，通过调整测试转台使被测天线 分量 、E 和 ： 处于指定的坐标系下。为计算方便同时又不失一般 E0 Ecocos6 sin~b (3) 性，在定义场地校准误差时采用逆向推导，即定义为 E =一E。sincb+E costb 被测天线的理想状态到最终状态的差别。具体如 E =E日cos0cos6一E6sin~b 下：理想状态的被测天线绕测试坐标系先绕 轴旋 Er=E日c