第十一章 X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素.pdfVIP

理化检验 - 化学分册 P TCA ( PA R T B :C H EM . AN AL . ) 2006 年 第 42 卷 12 试验与研究 X 射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素 马慧侠 , 张爱芬 ( 中国铝业股份有限公司郑州研究院 , 郑州 45004 1) ( 摘 　要 : 应用 X射线荧光光谱法测定了氧化铝中 11 种杂质成分 SiO , Fe O ,N a O , K O , 2 2 3 2 2 CaO , TiO ,P O ,ZnO ,V O , Ga O ,Cr O ) 。试样用四硼酸锂和偏硼酸锂作混合熔剂融熔制成 2 2 5 2 5 2 3 2 3 玻璃状片形熔块 。通过在高纯氧化铝中加入一定量的上述 11 种元素的纯氧化物配制成中间标准 样品 ,并用此中间标准样品和纯氧化铝作为空白试样组成高 、低标 ,制备了校正曲线 。又用此中间 标准样品与纯氧化铝按一定比例配制控制样品对分析过程进行质量控制 。对所提出方法的精密度 进行了考核 ,结果表明以上 11 种杂质成分测定结果的 R SD 值均小于 10 % 。用 4 种标样对此方法 的准确度进行验证 ,结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定 。 关键词 : X射线荧光光谱法 ; 杂质 ; 氧化铝 ; 硼酸盐融熔法制备试样 中图分类号 : O657 . 3 1 　　　文献标识码 : A 　　　文章编号 : 100 14020 (2006) XR F S D E T ERM IN A T ION O F IM PU R I T IES IN AL U M IN U M OXID E MA Huixia , ZHANG Aif en ( Z heng z hou R esea rch I ns ti t ute of A l um i n um , Chi na A l um i num Corp . L t d. , Z hengz hou 45004 1 , Chi na ) Abstract : Xray fluorescence sp ect romet ry was applied to t he det ermination of 11 oxides , SiO , Fe O , 2 2 3 Na O , K O , CaO , TiO , P O , ZnO , V O , Ga O and Cr O p resent as imp urities in aluminum o xide . Gla ssy 2 2 2 2 5 2 5 2 3 2 3 di scs of samp le wa s p rep ared by fu sion wit h a mixed flux of lit hium t et raborat e and met aborat e . An int ermediat e st andar