当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有.ppt

* X射线荧光光谱分析学习要点、简答 X-射线荧光光谱分析的原理。 当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关；谱线的强度和元素含量的多少有关, 所以测定谱线的波长, 就可知道试样中包含什么元素, 测定谱线的强度, 就可知道该元素的含量。 这其中主要涉及到X射线与物质的相互作用，既X射线、吸收和散射三种现象。 XRF分析物质成分的特点有那些？ 1.分析速度快，自动化程度高。 2.XRF分析是一种物理分析方法； 特别适合过程分析、野外现场、对比和非破坏性分析。 3.分析浓度范围广、测量的线性好、精度高；与测定元素的价态无关。 4.XRF分析比其他发射光谱简单，易于解析；尤其是对未知样品的定性分析。 5.制样简单；试样形式多样化。 6.具有在原样上微区条件下进行定性、定量分析。 7.对于原子序数较低的元素，因其荧光产额低及较强的散射影响，所以检出限不是很理想；对于超轻元素(H、Li 、Be)目前还不能直接进行分析。 X射线连续光谱是如何产生的?连续光谱为什么有短波限?短波限如何计算?它与X光管的电压、电流以及靶材有无关系? 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时，受到靶原子核的库仑力作用，突然改变速度而产生的电磁辐射。由于在撞击时，有的带电粒子在一次碰撞中损失全部能量，有的带电粒子同靶发生多次碰撞逐步损失其能量，直到完全丧失为止，从而产生波长具有连续分布的电磁波。因此，它也称韧致辐射、白色X射线或多色X射线。 如果带电粒子与靶一次碰撞后全部损失能量，产生的X射线光子的能量最大，波长最短，这就是连续光谱中的短波限（λ0）。所以连续光谱有短波限。如带电粒子的能量为eV，短波限的波长为： λ0=1.24／V (nm)，(V的单位是千伏特)。 短波限与X光管的电压有关，与X光管的电流和靶材无关。 当增加电流i时，短波限λ0和最大强度处的波长λmax不变，但最大强度增大。 当加速电压V增加时，最大强度处的波长向短波方向移动，最大强度也增大。 在加速电压和电流不变的情况下，用大Z的靶材时，短波限和最大强度处的波长不变，最大强度增大。 X射线荧光光谱是连续谱还是特征谱?如何产生?为什么能用它来进行元素的定性和定量分析？ X射线荧光光谱是特征谱。它是当原子内电子层出现电子空位，外层电子跃迁填充时所发射出来的X射线，故又称二次X射线… 由于各元素原子的能级差是不一样的，而同种元素原子的能级差是一样的，对于同一元素的原子发射出来的X射线的波长或能量是固定的；因此当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关；谱线的强度和元素含量的多少有关, 所以测定特征谱线的波长, 就可知道试样中包含什么元素, 测定特征谱线的强度, 就可知道该元素的含量。 莫塞莱定律及其意义： 特征X射线的波长(或能量)与原子序数（Z）有关，并且随着元素的原子序数的增加，特征X射线有规律地向波长变短方向移动，即元素的X射线特征波长倒数的平方根与原子序数成正比，用公式表示为 λ-1/2=a(Z-b) (a，b为常数，不同的谱系用不同的值)。 莫塞莱定律的意义在于揭示了特征X射线波长与元素的原子序数的确定关系，它奠定了X射线光谱定性分析的基础。 布拉格衍射公式及应用： 2dsinθ=nλ 布拉格衍射公式的应用在X射线衍射分析中，已知：λ，测量：θ，求：2d，用于物质的结构分析； 在X射线荧光分析中，已知：2d，测量：θ，求：λ，用于物质的成分分析。 荧光产额：原于内电子层q出现一个电子空位后，产生相应的q系X射线荧光的几率，叫做荧光产额。Wq=Nq/N，(N为q层电子空位数，Nq为产生q系谱线的光子数。就是单位时间内发出的所有K系谱线的光子数NK与同时间内产生的K层电子空位数N之比。)。 吸收限：在μ～λ曲线上显示出一些突然不连续处，这些突然的不连续处称为吸收限。 吸收突变：在μ～λ曲线上不连续处，较大的吸收系数与较小的吸收系数之比，称为吸收突变r。 质量吸收系数：式 中的比例系数μ称为密度为ρ材料对波长为λX射线的质量吸收系数。式中I0、I为材料吸收前、后的波长为的X射线强度，t为材料的厚度。质量吸收系数是化学元素的一种原子属性，是原子对X射线的不透过程度或“阻挡本领”的量度。它是X射线波长与原子序数的函数，当入射X射线的波长增大时μ也增大，当原子序数Z增大时μ也增大。 吸收突变系数：在某一