使用“analysette22”NanoTec的粒度分析.PDFVIP

使用“analysette 22”NanoTec 的粒度分析 FRITSCH公司推出的“analysette 22”NanoTec激光粒度仪是世界上第一款 能同时测量粒径分布和颗粒形状的激光测量装置！这台独一无二的仪器所引入的 新特点是：全新的传感器和独创的软件支持。 1.使用“analysette 22”NanoTec 测定粒径 物理基础 照射在颗粒（粉末，悬浮液等）上的激光束因散射而偏离其原来的方向。散 射光的角分布，取决于颗粒大小，激光波长极其折射率。对于粒径小于1微米， 激光的偏振也是一个重要的影响因素：能否观察到平行或垂直于偏振的光束，对 于强度分布有着显著的差异。可由图1看出。 图 1.小颗粒散射光的角分布。蓝色曲线表示垂直于偏振的强度分布，而红色曲 线表示平行于偏振的强度分布。 激光衍射仪能测量颗粒样本的散射角分布。再通过使用特殊算法，就能计算 出粒径分布。从上图中可以看到，在纳米范围内的特征颗粒需要什么样的条件才 能被测出。 测量必须尽可能涵盖更广泛的角度； 光束的偏振是很重要的；垂直或平行于激光偏振方向的散射光必须测量到。 技术解决方案 FRITSCH公司开发的“analysette 22”NanoTec对反傅立叶原理进行了验证。 测量单元被放置在聚焦光束的通道上。通过移动测量单元，可以测量不同系列的 粒径。不同位置下的测量单元被“组装”起来，以期获得最大测量范围。对于细 小的测量范围（粒径从10纳米至几微米），测量单元只需自聚焦点移动几毫米。 在图2中解释了新的测量原理。 图 2.第一步，由一激光束照射至颗粒样本。通过常规散射光传感器测量向前散 射光。大角度散射的光束通过棱镜偏转至附加传感器上。第二步，颗粒样本被从 反方向照射，使背部散射光可以得到测量。使用第二组棱镜和附加传感器（图中 没有显示），散射光可以通过平行和垂直于激光偏振面的光束来测量。通过这种 方法，散射光的角分布可以得到充分的描述。 此测量方法的优势： 使用反傅立叶原理，可以扩大粒径测量范围； 测量散射光时，不需要复杂的光学成像； 附加传感器没有重新调整/校准的需要。 在“analysette 22”NanoTec中没有图2所示的第二步测量步骤，它所测量 的粒径分布范围仍能达到自 100 纳米至 1000 微米。通过步骤 2，可使测量范围 向下扩展至 10 纳米。粒度分布是由高效的运算法则计算出的，而该法则基于 Fredholm原理的第一类积分方程。 2.“analysette 22”的颗粒形状识别 NanoTec 型 颗粒形状的识别可能是基于衍射结构。激光中的颗粒衍射图包含有关于粒子 形状的信息。不同形状的颗粒在激光束中会产生不同的衍射图。使用恰当的方法 对信号进行处理，能够把关于形状的信息提取出来。 图3.1模拟衍射图 图3.2球形椭球粒子衍射图 当然，在真正测量时，粒子是任意排列且粒径也是不同的。由此产生的衍射 图（如图3.3）包含有粒径、空间分布和颗粒形状的信息。 图3.3粒子集的衍射图 使用新型传感器（如图4）能够记录下包含粒子形状信息的衍射图。 图4.传感器的布置图 利用神经网络模型预先编写传感器数据，使统计计算得以实现。最后计算出 的是近似椭球粒子的平均伸长率。 把模拟神经网络模型反向使用，就能对传感器的数据进行评测。图中（图5） 显示的是经校准的颗粒形状，它很大程度上独立于材料。调查表明，这样的测量 值是高于预期值的。。