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太赫兹雷达基础 由于雷达的基本原理是基于电磁散射，所以本章着重讲述如何利用太赫兹时 域技术对电磁散射进行时间分辨率的测量。电磁散射是个巨大的研究领域，它除 了在商业和军事雷达方面有所应用之外，在很多测量技术中也都有广泛的应用。 而且绝大多数的处理方法都是在频域中研究散射的。由于光学方法产生的太赫兹 带宽脉冲具有很宽的带宽、相干位相，以及可以在亚皮秒分辨率的基础上直接测 量电磁场，所以它为研究基本散射机理提供了一种很有价值的新方法。 基于电磁散射的雷达具有很重要的商业价值和军事价值，而且利用它还可以 进行生物成像、多普勒技术应用以及军事目标识别等。我们最常见的电磁散射是 球形和圆柱形等简单几何体的电磁散射，而且由于散射辐射具有典型的方向相关 性，即散射信号取决于散射体相对于入射场和探测场k 波矢的取向，所以求解散 射的解析解通常情况下是很困难的。当散射体或目标物的尺寸或外形与波长（共 振区域）处于同等量级时，以及处理大目标或高频散射的问题更加困难。 图9-1 频率相关的介电常数和磁导率分别对散射信号ε （ω）和μ （ω）的作用 当利用散射作为遥感手段时，需要利用某一特定时间相关或频率相关的散射 辐射来识别物体。但是这种方法涉及到诸多因素的影响，如图9-1 所示。这些因 素主要有：被测物的组成元素、被测物的几何构造，以及周围的环境因素等等。 散射具有高度的方向相关性；“单站雷达”通常是利用反向散射来测量的散射信 号的。如果入射光和散射光的传播矢量的夹角不为零时，则需用 “双站雷达”， 即收发分置雷达来实现对散射信号的测量。对于大多数的散射问题，光源距离物 体很远，入射光可以认为是一个平面波。当入射波的波阵面穿过被测物体后，它 的位相变化小于一个信号周期，即ΔΦ2π，通过测量整个目标范围内电场的相 位变化ΔΦ，就可得到波阵面的曲率，如图9-2 所示。用于目标识别的一般算法， 需要对所有可能的目标，在不同的方向和角度上计算出它们的散射信号。但这种 计算方法计算起来非常困难，并且如果要对实际的目标进行识别的话，通常要依 赖于已知的信息库，而且主要是取决于特征信号，但这个特征信号是与方位无关 的。 图9-2 处于雷达远处目标的波阵面可以近似视为平面波 对于大多数一般性的问题通常都需要对其进行简化，而且这个简化过程与被 测物的共振频率有关。共振一般在目标物的散射中心之间产生，例如：喷气发动 机的圆柱形腔。由于共振频率只由目标物体本身的特性决定，而且在某种程度上 共振频率与方位无关。所以这些共振引起的散射被称作 “后期响应”。 在时域中测量后期响应是识别复杂目标的一种简单方式，它所采用的是短脉 冲源。这样做的优势在于：能够从时间上按照散射机理单独计算出散射响应。而 且利用脉冲的相干宽带宽和相位相干性，很容易能够分析计算出非线性散射问 题。为了能够识别出目标物，首先需要一个宽带宽的短脉冲从目标物上镜面反射 回来。但是，这个脉冲也会激发目标物使其发生共振，而且在随后的时间内将会 向外辐射能量。利用时间分辨率测量可以将延时响应分离出来。如果将宽带宽的 脉冲和短脉冲雷达的时间分辨率结合使用，根据散射频率之间的相位关系，则可 得出被测物的物理特性。 从时间上分离不同的散射不仅有助于目标的分辨，而且能深入了解散射的物 理机制。这种对散射过程的分析，能够有效地推动在时域中的电磁散射测量。如 果要实现这一过程，则需要宽带宽，位相相干的短脉冲，以及很高的时间分辨率 直接测量电磁场的能力。 太赫兹雷达 根据雷达主方程可知，测距雷达系统需要辐射源、散射体，以及探测散射辐 射的系统。对太赫兹时域光谱系统作些改进就能成为太赫兹脉冲散射测量系统， 即太赫兹雷达，如图9-3 （a ）所示。通过可偏转的反射镜将太赫兹光束打到目标 物上，而后调整太赫兹探测器就可接收到散射辐射。这种结构的优点是：在移动 可偏转的反射镜的同时，可以利用太赫兹时域光谱系统来探得物体材料的特性。 太赫兹源位于离轴抛面镜的焦点处，其中离轴抛面镜在这里的作用就是聚集 和校准太赫兹光束。太赫兹光束通过平面镜反射到目标物上，金属镜对太赫兹的 反射率可接近 100%。用这套装置要进行散射测量的话，校准后的太赫兹光束能 传播50-100 厘米远的距离，当太赫兹光束入射到物体上时，物体会以4π 的立体 角将入射光散射。散射场的振幅、相位和偏振取决于被探测物的组成成分及其取 向，观测散射辐射的角度，以及入射辐射的频率