一种高效的门级电路可靠度估算方法An Efficient ... - 电子与信息学报.PDF

第 35 卷第 5 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.35No.5 2013 年 5 月 Journal of Electronics Information Technology May 2013 一种高效的门级电路可靠度估算方法 *①② ① ① ① 蔡 烁 邝继顺 刘铁桥 周颖波 ①(湖南大学信息科学与工程学院 长沙 410082) ②(长沙理工大学计算机与通信工程学院 长沙 410004) 摘 要：随着半导体技术的不断发展，芯片的集成度越来越高，软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。 为了有效评估软差错对电路的影响，该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所 有节点在软差错影响下的取值概率，然后用故障模拟分析电路整体可靠性。通过对基准电路的实验并与概率转移矩 阵方法进行比较，该方法在不损失准确度的前提下，在时间与空间开销方面都具有优势，尤其适合估算特定向量和 随机向量激励下电路的可靠度。 关键词：VLSI ；软差错；概率门模型；概率转移矩阵；电路可靠度 中图分类号：TN406 文献标识码： A 文章编号：1009-5896(2013)05-1262-05 DOI: 10.3724/SP.J.1146.2012.01169 An Efficient Reliability Estimation Method for Gate-level Circuit ①② ① ① ① Cai Shuo Kuang Ji-shun Liu Tie-qiao Zhou Ying-bo ① (School of Information Science and Engineering, Hunan University, Changsha 410082, China) ② (School of Computer and Communication Engineering, Changsha University of Science and Technology, Changsha 410004, China) Abstract: With the development of semiconductor technologies and integration of chips, soft errors become the key factor influencing circuit reliability. In order to estimate the effects of soft errors, a reliability calculation method of gate-level circuit based on signals’ probability is proposed. All signals’ probabilities under soft errors are calculated first, and then the whole reliability is estimated using fault simulation. The proposed method is compared with the probabilistic transfer matrix approach and benchmark circuit experime