材料分析-第一部分.pptVIP

滤波片的材料依靶的材料而定：一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。当Z靶＜40时， Z滤=Z靶-1 当Z靶≥40时， Z滤=Z靶-2 几种元素K系射线波长和常用的滤波片及其吸收限 　 晶体单色器实际上就是一种反射本领强的晶体，其表面做成与某个反射本领大的晶面平行。当一束多色X射线照射到此单晶片上时，就只有符合布拉格条件的单色射线才能被反射，因而就得到了纯的单色X射线。 六、X射线的安全防护 X射线对人体有一定的危害。长时间的照射，会引起不良的后果。在进行X射线分析应该注意对X射线的防护，不要让X射线直接照射人体。可用一些重金属材料，如铅等进行屏蔽。 Cu (29): 2-8-18-1 特征谱的波长不受管压和管流的影响，只决定于阳极靶材的原子序数。对一定材料的阳极靶，产生的特征谱的波长是固定的，此波长可作为阳极靶材的标志或特征。 L—K为Kα， M—K为Kβ 3、特征谱的产生 X射线频率ν和波长λ： 电子能级间的能量差并不是均等分布的，愈靠近原子核的相邻能级间能级差愈大，所以同一靶材的K、L、M系谱线中，以K系谱线的波长最短； 同一线系各谱线间， Kα波长比Kβ长，Kα与Kβ强度比约为5:1。　　 Kα还分为Kα1和Kα2两条线。Kα1和Kα2强度比约为2:1， 特征X射线的辐射强度随管压U和管流i的增大而增大，K系谱线强度的经验公式为： U=3Uk-5Uk n约为1.5， K 和α是常数 不同靶材的同名特征谱线，其波长λ随靶材原子序数Z的增大而变短----------莫塞莱定律 五、X射线与物质的相互作用 I0,λ0 热能 透射X射线 散射X射线(λ=λ0相干散射和λλ0非相干散射) 电子（反冲电子，俄歇电子，光电子 ） 荧光X射线 （XRF) X射线与物质的作用 1、X射线的散射 1）相干散射（汤姆逊散射） A、与物质原子中束缚较紧的电子作用。 B、散射波随入射X射线的方向改变了，但频率 （波长）相同。 C、各散射波之间符合振动方向相同、频率相 同、位相差恒定的干涉条件（△δ=nλ）， 可产生干涉作用。 相干散射是X射线在晶体产生衍射的基础 2）非相干散射（康普顿散射）　　 A、X射线作用于束缚较小的 外层电子或自由电子。 B、散射X射线的波长变长了。 散射X射线波长的改变与传播方向存在如下的关系：　 C、由于散射X射线的波长随散射方向而变，不能产生 干涉效应。故这种X射线散射称为非相干散射。 非相干散射不能参与晶体对X射线的衍射，只会在衍射图上形成不利的背景。 2、X射线的吸收 物质对X射线的吸收—指X射线能量在经过物质时转变为其它形式能量的效应。它主要包括光电效应、二次特征幅射和俄歇效应等。 1）光电效应和荧光（二次特征）辐射　　当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子（如K层电子）被激发，光子击出电子产生光电效应，被击出的电子称为光电子。同时整个原子处于激发态，使高能级上的电子产生跃迁，发射新的特征X射线（荧光或二次特征X射线）。　　  激发原子产生K,L,M等线系的荧光辐射，入射的X射 线光量子的能量必须≥K,L,M层电子与原子核的结 合能Ek,EL,EM，例如： νk和λk分别对应于入射X射线须具有的频率和波长临界值 也是入射X射线的K,L,M的吸收限。 短波限 利用吸收限可以计算出靶材的临界激发电压： 原子序数愈大,同名吸收限波长值愈短。 在X射线衍射分析中，X射线荧光辐射是有害的，它将 增加衍射花样的背景。但又是X射线荧光分析的基础。 K 和α是常数 不同靶材的同名特征谱线，其波长λ随靶材原子序数Z的增大而变短----------莫塞莱定律 2）俄歇效应　　　　当高能级的电子向低能级跃迁时，能量不是产生二次X射线，而是被周围某个壳层上的电子所吸收，并促使该电子受激发逸出原子成为二次电子。这种效应是俄歇1925年发现的。故称俄歇效应，产生的二次电子称俄歇电子。 　 俄歇电子具有特定的能量值。可以用来表征这些原子。利用该原理制造的俄歇能谱仪主要用于分析材料表面的成分。 　 3、X射线的衰减规律与吸收系数　　 X射线通过物质时，X射线强度衰减了。其中，因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。因此，可以近似地认为，X射线通过物质后其强度的衰减是由于物质对它的吸收所造成的。