材料测试技术与方法试验指导书.docVIP

《材料测试技术及方法》 实验指导书 王卫伟 李成峰 材料科学与工程学院 2008年9月 目 录 实验一 X射线衍射仪使用演示 1 实验二 X射线衍射分析 实验三 电子显微分析 实验四 扫描电镜的使用演示 实验五 紫外、可见分光光度法测试 1 实验六 红外分析 1 实验七DTA/TG使用演示与分析 16 实验八 DSC分析 实验一 X射线衍射 德国D8 ADVANCE多晶X-?射线衍射仪 a．将被测试样在玛瑙研钵中研成5μm左右的细粉； b．将适量研磨好的细粉填入凹槽，并用平整光滑的玻璃板将其压紧； c．将槽外或高出样品板面多余粉末刮去，重新将样品压平，使样品表面与样品板面一样平齐光滑。 （2）特殊样品的制备 对于金属、陶瓷、玻璃等一些不易研成粉末的样品，可先将其锯成窗孔大小，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可取窗孔大小直接嵌在窗孔内。但固定在窗孔内的样品其平整表面必须与样品板平齐，并对着入射X射线。 2．测量方式和实验参数选择 （1）测量方式：有连续扫描和步进扫描法。连续扫描法是由脉冲平均电路混合成电流起伏，而后用长图记录仪描绘成相对强度随2θ变化的分布曲线。步进扫描法是由定标器定时或定数测量，并由数据处理系统显示或打印，或由绘图仪描绘成强度随2θ变化的分布曲线。不论是哪一种测量方式，快速扫描的情况下都能相当迅速地给出全部衍射花样，它适合于物质的预检，特别适用于对物质进行鉴定或定性估计。对衍射花样局部做非常慢的扫描，适合于精细区分衍射花样的细节和进行定量的测量。例如，混合物相的定量分析，精确的晶面间距测定、晶粒尺寸和点阵畸变的研究等。 （2）实验参数选择 a．狭缝：狭缝的大小对衍射强度和分辨率都有影响。大狭缝可得较大的衍射强度，但降低分辨率；小狭缝提高分辨率但损失强度。一般需要提高强度时宜选取大些狭缝，需要高分辨率时宜选小些狭缝，尤其是接收狭缝对分辨率影响更大。每台衍射仪都配有各种狭缝以供选用。 b．量程：指记录纸满刻度时的计数（率）强度。增大量程表现为X射线记录强度的衰减，不改变衍射峰的位置及宽度，并使背底和峰形平滑，但却能掩盖弱峰使分辨率降低，一般分析测量中量程选择应适当。当测量结晶不良的物质或主要想分辨弱峰时，宜选用小量程；当测量结晶良好的物质或主要想探测强峰时，量程可以适当大些，但以能使弱峰显示，强峰不超出记录纸满标为限。 c．时间常数和预置时间：连续扫描测量中采用时间常数，指计数率仪中脉冲平均电路对脉冲响应的快慢程度。时间常数大，脉冲响应慢，对脉冲电流具有较大的平整作用，不易辨出电流随时间变化的细节，因而，强度线形相对光滑，峰形变宽，高度下降，峰形移向扫描方向；时间常数过大，还会引起线形不对称，使一条线形的后半部分拉宽。反之，时间常数小，能如实绘出计数脉冲到达速率的统计变化，易于分辨出电流时间变化的细节，使弱峰易于分辨，衍射线形和衍射强度更加真实。计数率仪均配有多种可供选择的时间常数。步进扫描中采用预置时间来表示定标器一步之内的计数时间，起着与时间常数类似的作用，也有多种可供选择的方式。 d．扫描速度和步宽 连续扫描中采用的扫描速度是指计数器转动的角速度。慢速扫描可使计数器在某衍射角度范围内停留的时间更长，接收的脉冲数目更多，使衍射数据更加可靠。但需要花费较长的时间，对于精细的测量应采用慢扫描，物相的预检或常规定性分析可采用快扫描，在实际应用中可根据测量需要选用不同的扫描速度。步进扫描中用步宽来表示计数管每步扫描的角度，有多种方式表示扫描速度。 3．样品测量 （1）衍射仪的操作 a．开机前的准备和检查：将制备好的试样插入衍射仪样品架，盖上顶盖关闭好防护罩。合上水泵电源，使冷却水流通。检查X光管窗口应关闭，管流管压表指示最小位置。接通总电源，打开稳压电源。 b．开机操作：开启衍射仪总电源，启动循环水泵。接通X光管电源，缓慢升高电压和电流至需要值（通常设定电压为35KV，电流为20mA）。设置适当的衍射条件（扫描速度为4o/min，最高扫描角度为65 o）。打开记录仪和X光管窗口，