光度观测（I）.PPT

光度觀測（I） 陳炳志 國立成功大學物理系 光度觀測的目的 目的：測量星體的「亮度」(Brightness)與顏色(Color) 「亮度」(Brightness)與「光度」(Luminosity)的不同 點光源(Point source)與展源(Extend source) 光度觀測和那些天文物理課題有關？ 星團（球狀星團、疏散星團） 赫羅圖 星球演化 星團距離 恆星 數星星→銀河結構 變星→早期與晚期恆星演化 星系 星系結構 恆星形成 濾光片 (Filter) 量測特定波長與頻寬範圍內的通量(Flux)使用 簡單的分為 寬頻(Broad band)，如Johnson system之U, B, V, R, I，頻寬約～900? 中頻(Intermediate band)，如Str?mgren system之u,b,v,y，頻寬約～200? 窄頻(Narrow band)，如Hα, [OIII]，頻寬小於30? 常用濾光片的材質 玻片染色濾鏡，或稱為材質濾鏡，寬頻使用 干涉濾鏡，表面度膜，利用干涉控制中心波長與頻寬，易氧化 由不同預先定義的波段便組成光度系統 (Photometry System) CCD上單一像元所偵測到的光量： Fλ：觀測到的星體flux ψA(λ)：地球大氣的穿透函數(Transmission function) ψT(λ)：望遠鏡的穿透函數 ψF(λ)：濾光片的穿透函數 ψD(λ)：偵測器的量子效率 F*λ：大氣外的星體flux 如何定義顏色 波段(bandpass) 特定波長與頻寬範圍內的通量(Flux) 量測單一波段的亮度無法定義顏色 顏色需要兩個以上的波段的亮度進行「比較」—色指數(Color Index) Why? 色指數 (Color index) C.I. = m1 - m2 可以用來表示星體顏色與其他物理、化學性質 不同濾光片中心波長與頻寬決定了不同的性質 窄波長濾光片通常針對特定譜線或吸收帶設計，因此往往對於特定物理化學特性較敏感 常用的色指數 Johnson System B-V：顏色、溫度 U-B：顏色、Luminosity class Stromgren System m1：金屬豐度(metal abundance) c1：表面重力(Surface gravity) 光度分析的三大步驟 影像校正 (Image Calibration) 主要目的：將儀器及環境的變因移除 測光 (Photometry) 主要目的：量測星光在儀器上的亮度 光度校正 (Photometry Calibration) 主要目的：將儀器亮度換算為真實星等或能量通量 CCD影像是個二維陣列！ 影像校正 壞點(Hot pixel)修正 宇宙射線(Cosmic ray)修正 影像修剪(Trimming) 偏壓(Bias)修正 暗電流(Dark current)修正 平場(Flat field)修正 壞點與宇宙射線修正 相同之處：都是單一的飽和像元 不同之處：壞點出現在固定位置，可以預先量測建檔；宇宙射線位置為隨機，無法預測 利用Median method或3-σ rejection method來找出宇宙射線 利用均值法，使用周圍像元的平均值取代壞點或宇宙射線 含有宇宙射線的影像 影像修剪(Trimming) 部分影像邊緣無法使用 Warn pixel 周邊減光 在進行平場修正時會影響畫面的統計值，因此必須要切除 偏壓(Bias)修正 因為各像元的所加之偏壓不同，因此在讀出時，訊號強度的原點並不相同 可以透過拍攝零秒曝光的影像來進行修正 取多幅平均，以降低讀出雜訊(Readout noise) 暗電流(Dark current)修正 CCD晶片上因熱運動所產生的電子流而額外增加的訊號 可以透過不開快門的相同曝光時間影像得到暗電流的大小（該影像仍包含了BIAS，需先處理） 由於暗電流的大小與曝光時間有線性關係，可以用較長時間的暗電流的影像以內插方式得到所需曝光時間的暗電流大小 為什麼不能用外插？ 取暗電流影像時，需注意溫度的變化！ 平場(Flat field)修正 平場修正之誤差來源 每個像元對於光的反應並不相同 灰塵造成部分像元受光減少 Count = a × Flux + b a ：像元的反應係數 b ：Bias 拍攝一個均勻光源照射的畫面，以得到反應係數的變化 均勻光源： Sky Flat Dorm Flat Manmade Flat 平場影像範例 實際觀測工作 由上述的討論，我們可以瞭解在觀測上需要取得下列影像，才能有效的進行前置處理： 與波段無關： 目標星場 (object, target, light) 偏壓影像 (bias, zero) 暗電流 (dark) 與波段有關： 平場 (flat