利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其-电子与信息学报.PDF

第32 卷第3 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.32No.3 2010 年3 月 Journal of Electronics Information Technology Mar.2010 利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现 董 刚①② 杨海钢① ①(中国科学院电子学研究所 北京 100190) ②(中国科学院研究生院 北京 100049) 摘 要：循环冗余校验(CRC)算法在很多领域都有广泛的应用。对于确定格式的CRC 校验码生成多项式，其错误 漏检率基本为确定值。因此待检数据的长度越大，出现错误而不会被检测到的机会也就越多。为了解决这方面存在 的问题，该文利用无损压缩霍夫曼算法缩短待测数据的长度，从而降低了数据出错之后不能被检测到的概率。并设 计出相应的可靠性校验电路。与单纯使用CRC 校验的方法相比，该文提出的方法可以将出错的几率下降为原来的 万分之一以下。设计得到的电路模块可以作为VLSI 中的可靠性电路模块(IP)加以利用。 关键词：可靠性电路；霍夫曼编码；CRC 编码；无损数据压缩 中图分类号：TN406 文献标识码：A 文章编号：1009-5896(2010)03-0705-05 DOI:10.3724/SP.J.1146.2009.00255 Reducing Undetected Error Rate of CRC Coding Based on Lossless Compression and Implement in Circuits ①② ① Dong Gang Yang Hai-gang ① (Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, 100190) ② (Graduate University of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China) Abstract: The Cyclic Redundancy Checking (CRC) is widely used in many applications. For a certain format of the code, the error undetected probability is nearly a constant. But more bits of the information take more chances to burst errors. This paper proposes to reduce the error burst probability with lossless compression method, i.e., Huffman coding. The probability can be less then one ten-thousandth. Consequently, a new reliability circuit for VLSI with combined Huffman and CRC coding has been designed in this paper. Key words: Reliability circuit; Huffman coding; CRC coding; Lossless compress 矛盾，各方面做了大量的研究工作。Minnesota 大 1 引言