测试系统功率半导体元件可靠性测试系统-英特普罗系统｜ATE测试.PDF

测试系统 功率半导体元件可靠性测试系统 功率元件的可靠性测试 SEMTest对于包括IGBT、MOSFET、SCR、二极管和双级部件和模块在内的功率半导体元件的可靠性和延长寿命测试是理想 的配置。此集成解决方案拟用于产品开发特性化，并包含测试系统，燃烧烤箱、冷却器、冷却板和测试软件。 测试系统执行热量和电气循环组合，从而对包括基于金刚砂 (SiC))的半导体新产品、新工艺和新材料或为满足RoHS需求 的新设备进行验证。 SEMTest被设计用来加速设备中的任何故障机制以便确定它的寿命和功能性运行极限。 应用  设计工程验证  设计特性化  生产确认 特点：  为DUT提供热量和电气压力的功率循环  DUT的高速寿命测试  具有用户定义的报警和控制限制的趋势检测  接点温度测量  快速DUT温度循环和环境温度曲线绘制  自动化报警机制对初期故障的检测  DUT隔离控制