第四章内嵌式逻辑分析仪的使用.pptVIP

第四章、内嵌式逻辑分析仪的使用 FPGA平台下有关测试与测量技术简介： 在FPGA平台下测试与测量技术 市场状况与覆盖范围 硬件测试种类 TM方法 嵌入式逻辑分析仪 SignalTap II SignalTap II 主要功能 使用SignalTap II的一般流程 测试参数的配置 SignalTap II的使用实例:DTMF信号的检测 §4. 内嵌式逻辑分析仪的使用 一、在FPGA平台下测试与测量技术 ( Test Measurement ) 二、 硬件测试种类 三、 TM方法 ①、传统“探头”方法：万用表、示波器、逻辑分析仪、相位分析仪、… 四、 TM方法（1） ①、传统“探头”方法：万用表、示波器、逻辑分析仪、相位分析仪、… ②、基于JTAG的边界扫描测试(Board Scan Test, BST) ③. 基于JTAG的内部逻辑测试 ④. 混合测试技术 五、 嵌入式逻辑分析仪 三项主要缺点： 1．内核的尺寸限制了FPGA中逻辑资源的利用。此外 由于波形数据占用FPGA内部存储器，使信号采样的数 据量有限。 2. 设计工程师必须放弃把内部存储器用于调试，存储 器的利用取决于系统的设计。 3. 内部逻辑分析仪只工作于状态模式。它们捕获的数 据与规定的时钟同步，而不能提供信号