CH2测试系统的特性.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 实现不失真测试的条件(8/8) 3）?=(0.3~2.5)?n段，装置频率特性受?影响很大。 当? = 0.6~0.8时，可以获得较为合适的综合特性； 当? =0.7时，在?=(0~0.58)?n的频段内，A(?)变化小于5%，而?(?)也接近直线，产生的相位失真也很小。 注意： 幅值失真与相位失真的影响应权衡考虑，如在振动测试中，有时仅关心振动的频率成分及其强度，则可以允许有相位失真。而如若需要测量特定波形的延迟时间，则需要满足相位不失真条件。甚至，在某些测试情形下，可能并不关心失真问题，如两个输入信号间相位差的测量。 原则上构成一个测试系统的每个环节都应当基本满足不失真测试条件。 2.6 测试系统静态特性和动态特性的测定 (Determine static and Dynamic Characteristics) 1. 测试系统静态特性的测定 是一种特殊的测试，通过选择经过校准的标准静态量作为系统输入，求出其输入、输出特性曲线。 静态特性的测定 标准输入量的误差应当是所要求测试结果误差的1/3～1/5或更小。 标定过程： 1）作输入-输出特性曲线。 将标准量在满量程范围内均匀地等分成个 n输入点， 按正反行程进行相同的 m 次测量，得到2 m条输入、输出特性曲线。 2）求重复性误差。 测试系统静态特性和动态特性的测定(2/11) 4）求回程误差。 5）求作定度曲线。 6）求作拟合直线，计算线性度和灵敏度。 x y A 0 3）求作正反行程的平均输入-输出曲线。 测试系统静态特性和动态特性的测定(3/11) 2. 测试系统动态特性的测定 （1）频率响应法 频率特性的测试：正弦激励法 通常对测试装置施加峰值为20% 量程左右的正弦信号，其频率自足够低开始，以增量方式逐点增加到较高频率，直到输出量减少到初始输出幅值的一半止，即可得A(f)和?(f)。 一阶装置时间常数的确定 ?(?) = -arctan?? 测试系统静态特性和动态特性的测定(4/11) 二阶装置参数?、?n的确定 1）根据相频特性估计 在? =?n处，?(?)的斜率直接反映系统阻尼比的大小，即可以根据?(?) = -90?确定固有频率?n，再根据该点斜率确定阻尼比?。 但相角测量较困难，故较少采用该方法。 测试系统静态特性和动态特性的测定(5/11) 2）根据幅频特性估计 方法一： 对于欠阻尼二阶系统，谐振频率： 令? 1 =(1-?)?n、? 2 =(1+?)?n，则： 当?甚小时，? r ??n，即： 测试系统静态特性和动态特性的测定(6/11) 即： 在幅频特性曲线峰值的 处作一水平线，其与幅频特性曲线的交点a、b将分别对应频率?1、? 2。 x 0 A(?) ?1 ?n ?2 a b 1 2? 测试系统静态特性和动态特性的测定(7/11) 方法二： 求取?。 利用 根据 得到?n。 （2）阶跃响应法 一阶装置时间常数的确定 1）方法一 将阶跃响应曲线达到其最终稳态值的62.2%所经过的时间作为时间常数?。 此方法仅利用测量所得响应的个别瞬时值，且0时刻很难准确确定，可靠性较差。 测试系统静态特性和动态特性的测定(8/11) 2）方法二 由 ，有： 即： 上式表明，t与ln[1﹣y(t)]成线性关系。 根据测量所得的y(t)值作出ln[1﹣y(t)] - t曲线，即可由其斜率确定?。 该方法不受是否从0时刻开始测量y(t)的影响，且可用于识别装置是否为一阶系统。 不管采用何种方法，均要求阶跃信号的上升时间远远小于被测装置的时间常数。 注意： 测试系统静态特性和动态特性的测定(9/11) 二阶装置参数?、?n的确定 1）方法一 由欠阻尼二阶系统最大超调量： 2）方法二 对于阻尼较小的二阶系统，利用任意两个超调量Mi和Mi+n求取?，其中n为该两个超调量之峰值相隔的周期数(整数)。 测试系统静态特性和动态特性的测定(10/11) 1 0 y(t) Td M M1 t 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 M ? 欠阻尼二阶装置的阶跃响应 欠阻尼二阶装置的M-?图 由二阶系统的阶跃响应： 测试系统静态特性和动态特性的测定(11/11) 各振荡峰值对应的时间