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致茂電子 售後服務課 Chroma 6000 ATS Structure of C6000 Switching Analyzer OVP Source Power Analyzer (option) Extended Measurement Unit Input Source (AC or DC) Test Fixture (option) Control Unit (PC) 19” Rack 各項測試執行的流程圖 輸出入特性測試(INPUT/OUTPUT TEST) 本項測試用以量測待測物在靜態負載條件下其輸入端及輸出端的特性。本項測試要量測的資料如下: 輸入端: Iinrms、Iinpk+、Iinpk-、Pin、Efficiency、Pf、Vin 輸出端: Vdc、Vpp、Vn、Pdc、Idc 測試檔案畫面: Pin : 待測物的輸入實功率 其中 T = 3 秒 Pdc : 待測物總輸出功率 其中 n 為待測物總輸出組數 Vdc(i)為各組輸出之電壓 Idc(i)為各組輸出之電流 Eff : 效率(用%表示) Pf : 待測物輸入端功率因素 Vin Reading : Vin的讀值,量測點在EMU的Vout 接頭,由於輸入電壓在ON/OFF Controller 壓在ON/OFF Controller 線路上有壓降的緣故，在 此點所量到的電壓會略低於輸入電源供應器所顯示的電壓,計 算Pin及Pf係讀自此點的電壓,故可得到較精確的結果。 Vdc : 待測物的輸出直流電壓。 Idc : 待測物的輸出直流電流。 Vpp : 待測物輸出電壓雜訊峰對峰值(Peak to Peak Noise)。 Vn : 待測物輸出電壓雜訊均方根值(RMS Noise)。 I/R Amp/Ohm: 負載大小，定電流模式時用Amp表示。定電阻模式 時,用Ohm表示。 動態特性測試(DYNAMIC TEST) 本項測試用以量測待測物在動態負載條件下的輸出特性其量測的資料如下： 輸入端：無 輸出端：Vs-1、Vs-2、dV、Vpp、Vn、I1、I2 測試檔案畫面: I/R–1, PERIOD–1 :負載大小1及其拉載時間。 I/R–2, PERIOD–2 :負載大小2及其拉載時間。 Vs–1 :當負載要從I/R–1到I/R-2之前瞬間的輸出直流電壓值。 Vs–2 :當負載要從I/R–2到I/R-1之前瞬間的輸出直流電壓值。 Vs Max :Vs–1及Vs–2的容許最大值。 Vs Min :Vs–1及Vs–2的容許最小值。 dV : (Vs–1) – (Vs–2)|。 Vpp :待測物輸出電壓雜訊峰對峰值(Peak to Peak Noise)。 Vn :待測物輸出電壓雜訊均方根值(RMS Noise)。 同步動態特性測試(SYNC DYNAMIC TEST) 同步動態特性測試和前節所述之動態特性測試惟一的不同為，本測試之 “PERIOD-1” 及 “PERIOD-2” 係由第一組之Switcher Analyzer 產生並供給其他各組之Switcher Analyzer以達到各組負載皆能同步的狀態。 負載效應測試(LOAD REGULATION TEST) 負載效應測試用以檢測待測物某一組輸出，在其他各組輸出的負載保持固定時，給予三種不同負載大小，其電壓的反應特性，本測試量 測的參數如下： 輸入端：無 輸出端：Vdc-1、Vdc-2、Vdc-3、Vpp-1、Vpp-2、Vpp-3、Vn-1、Vn-2、Vn-3、dV21、dV31 測試檔案畫面: dV(-)Max :第二次或第三次加載的輸出電壓與第一次加載的輸出電壓之 減量絕對值的最大容許量。 Vdc rea