X射线荧光注意事项.docVIP

X射线荧光 思考题： 1、分析玻璃熔片法和粉末压片法对荧光测试结果的影响。 3、玻璃熔片时一般要对试样进行预氧化，请问原因为何？ 1、玻璃熔片方法 在X射线荧光中，各种氧化物材料如碳酸盐硅酸盐类材料通过硼酸盐的高温熔融，可变成一种非晶态低温共熔体，能完全消除矿物效应和粒度效应；通过熔剂的高倍稀释在一定程度上能降低共存元素间基体效应的影响，这种方法被公认为一种最精确的制样方法。该方法最早由Claisse提出，并在1956年发表了第一篇关于熔融制样的论文 。以后，该技术 在荧光实验室广泛采用。 硫有SO2及SO3两种氧化物形态。SO2极易挥发， SO3不易挥发；为确保硫不挥发，应采取适当措施： 1. 选择适当的氧化剂，通过预氧化将低价硫的氧化物转变成最高价氧化物SO3 2. 严格控制熔融温度不超过1000C,降低硫的挥发性； 3. 硫的氧化物属于酸性物质，对碱性熔剂偏硼酸锂（LiBO2）或含偏硼酸锂的混合熔剂亲和力较强熔融保留效果好 氟在工业中的应用比较广泛的，如萤石中CaF2的测定；电解铝工业中各种 冰晶石中氟的测定等。使用熔融法测氟存在两个问题；1. 氟在高温下的易 挥发性；2.氟属于超轻元素，荧光产额很低。为保证高温熔融时氟的低挥发 及高灵敏度，必须采取如下措施： 1. 为防止氟的严重挥发，熔融温度不超过900度，以便使氟的挥发降到最低； 2. 在硼酸锂混合熔剂基础上，适当添加熔点更低的偏磷酸钠熔剂以降低熔融 温度，减少氟的挥发损 3. 为确保测定氟的灵敏度，降低熔剂与样品的稀释比，控制在5:1的条件下 4. 由于氟的荧光产额很低， 为增加氟的荧光线强度，采用低电压大电流优 化的激发条件。 还原性物质的预氧化处理 1. 还原性物质： 在高温下会强烈腐蚀铂金坩埚，这类非氧化物不熔于硼酸盐，不能直接熔融， 必须进行预氧化处理。这类物质主要包括铁合金、硫化物（各种硫精矿）、氮 化物、碳化物以及亚氧化物（Cu2O）等 ； 2. 预氧化剂： 固体氧化剂有过氧化物如Na2O2, BaO2等、Li2CO3,、Na2CO3等碳酸盐以及 LiNO3, KNO3等硝酸盐； 3. 氧化剂类别： 高温氧化剂：Na, K, Sr的硝酸盐 ；低温氧化剂：Li 及 NH4 的硝酸盐 低效氧 化剂：Li 及Na的碳酸盐 ；常效氧化剂：若干盐类的混合物 1. 还原性物质： 在高温下会强烈腐蚀铂金坩埚，这类非氧化物不熔于硼酸盐，不能直接熔融， 必须进行预氧化处理。这类物质主要包括铁合金、硫化物（各种硫精矿）、氮 化物、碳化物以及亚氧化物（Cu2O）等 ； 2. 预氧化剂： 固体氧化剂有过氧化物如Na2O2, BaO2等、Li2CO3,、Na2CO3等碳酸盐以及 LiNO3, KNO3等硝酸盐； 3. 氧化剂类别： 高温氧化剂：Na, K, Sr的硝酸盐 ；低温氧化剂：Li 及 NH4 的硝酸盐；低效 氧化剂：Li 及Na的碳酸盐 ； 常效氧化剂：若干盐类的混合物 荧光分析中的误区 　误区1：标样制备太麻烦，最好用无标样法。X射线荧光分析事实上是一种对比分析，特别是经验系数法，测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的，必须制备足够数量的标准样品，标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。 基本参数法等无标样分析法一般是用于完全未知样品的初步分析的，所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。 误区2：标准样品可以购买别人的。由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的，而对于X荧光分析而言，标样与被测未知样越相似，测定结果越好，因此，为了取得好的分析结果，各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题： 　　a.必须主要用生产用原料配制，个别少量组份可用化学试剂; 　　b.标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个); 　　c.标样中被测元素的含量范围应完全覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围; 　　d.标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。