CP测试常见问题与处理方法.docVIP

N年前的东西 ，新人可以看看 。欢迎纠正开短路（Open/Short）?? ? ? ? 异常现象：. d, f9 c! A: @6 T. d9 ?1.? ? ? ? 测试IC保护二极管电压偏低或偏高（一般为0.2V Short和1.2V Open。7 o7 w, P. a, Q9 @% M1 E, b( R?? ? ? ? 异常分析：6 V9 c9 W$ M8 u* D* I; B1.? ? ? ? Open/Short多为硬件因素影响，需从硬件入手，再对产品进行确认是否异常。?? ? ? ? 处理方法：1.? ? ? ? 检查针卡扎针是否良好，针卡是否焊线脱落，错误等。6 r- r1 B( w. N2.? ? ? ? 检查DUT板使用是否错误或焊线脱落，错误，PIN针脱落等。8 S??[) Y7 x7 R1 I3.? ? ? ? 确认接地线是否良好。4.? ? ? ? 确认圆片放置方向是否错误。5.? ? ? ? 如有不稳定现象检查针卡是否有电容充放电影响或对测试机进行较正。6.? ? ? ? 确认程式是否设置不当。4 A??o0 M4 C9 U2 g! t7.? ? ? ? 直接用万用表量测IC I/O PIN对电源PIN是否有保护二极管。8.? ? ? ? 排除以上因素需对测试机进行校正确认。9.? ? ? ? 实际确认产品异常需开异常单确认。OPEN/SHORT失效举例说明1.? ? ? ? 按测试结果检查对应的通道是否断线，虚焊，短路或对应接线表是否焊线错误。2.? ? ? ? 有些产品针卡电容较多，电容的充放电会影响O/S测试，此时需用断电器切换电容或测试O/S时DPS先给一个小负电压后DPS再给0V测试，同时O/S测试时可以给相应的延时测试。3.? ? ? ? 有些产品来料已切不能确定缺边方向，此时需偿试不同角度O/S测试情况，也可用万用表协助确认通道至电源PIN保护二极管。8 B. `5 W. J3 X??r) h4.? ? ? ? 产品来料可能存在O/S异常，直接用万用表量测是否有保护二极管确认??U??q. h( P1 q: L+ }5 v5.? ? ? ? 有些通道在OPEN/SHORT未测试到，但在功能测试时表现出异常，通常如通道OPEN时，功能输出测试时通道为高阻态，输出多为H或Z。静态电流（ISBY）% F2 H) {+ }; e+ b7 E?? ? ? ? 异常现象：1.? ? ? ? Isby超出电流范围。/ ^1 x+ O1 |0 ^0 Z4 ]4 G. j0 I) S?? ? ? ? 异常分析： h. k8 W, P, ~ }( B1.? ? ? ? Isby通常小于5uA，容易被干扰，以实际量测为准。?? ? ? ? 处理方法：+ L K$ U: \??r* e; ]1.? ? ? ? 检查针卡接触是否良好,针卡是否存在短路的因素及接线干扰。 S: V. G4 e3 G??m2.? ? ? ? 检查电源PIN是否有电容影响。 D a# L+ h/ T R3.? ? ? ? 检查接地线是否良好和是否开关灯测试。4 K: a W3 N! l??V. r( T4.? ? ? ? 检查ISBY坏是否其它项目测试通过。1 k1 `7 ~9 d+ Z$ R! G9 E7 v5.? ? ? ? 确认程式量测电流档位不当或上电延时太短等设置影响。6.? ? ? ? 确认测试机是否存在电流测试异常。+ h0 a0 N??X+ e; n! H7.? ? ? ? 万用表实际量测确认电流值是否异常或用指针表指针有明显的摆动不稳定现象。1 G% i! R3 o3 |8.? ? ? ? 实际量测值确认超出范围需开异常单确认。* T9 l9 K, n7 k, E- @ISBY失效举例说明1.? ? ? ? Isby会因不同测试机的差异或不同的电流量测档位测值会有不同，Isby测试分档较多。8 N9 U3 A) U n q+ Y G2.? ? ? ? Isby失效或量测时有些被量测电流档位嵌位，需用万用表实际量测实际电流值，类似这种可能芯片上电未有静态失效，IDD，Freq，Func通常都会有影响。也会有ISBY失效后FUNC正常，但IDD会较正常芯片值高约100uA以上。有些被电流量测档位嵌位，FUNC多数都失效。具体需看ISBY失效值与规格上限相差，相差越大，其它测试项目影响的可能性也就会越大。4 q6 ] N9 p9 j3.? ? ? ? 针卡等硬件，电容，接地是否良好也会影响Isby测试，针卡我们都有将排线焊到针卡盘上，对针卡进行割线处理，针与针之前用刀片划过等方法都是为减少测试干扰。( l% j* \3 R; v4.? ? ?