有线耳机电连接的可靠性研究.pdfVIP

第4期 机 电 元 件 Vn1．32No．4 ELECTR0M雹CHANICAL COMPONENTS Au昏2012 2012年8月 有线耳机 电连接的可靠性研究 吴秀敏，芦 娜 (北京邮电大学 自动化学院电连接和连接器科研室，北京 100876) 摘要：影响有线耳机可靠性的因素很多，比如接 口的物理结构、所选择的接触材料，接触的几何形状，镀层 的质量等。本文以三种不同镀层材料的耳机为研究对象，对其进行插拔寿命试验和湿热循环试验，以接触电阻为 参数来衡量样品的电接触可靠性能。 关键词：耳机 ；接触电阻；插拔寿命试验；湿热循环试验 Doi：10．3969／j．issn．1000—6133．2012．04．010 中图分类号：TN784 文献标识码：A 文章编号：1000—6133(2012)40 —0039—05 要评价指标，本文亦以此为评价参数，分别对不同镀 1 前言 层材料的原始样品和插拔试验后及湿热循环试验后 在通信和电子系统中存在大量的电子连接，连接 的样品进行接触电阻的测量 。 器的可靠接触保证了整个系统的正常运行。影响电 测量原始样品的接触电阻，并初步选取合格的 接触的接触性能和可靠性的因素主要有两类：(1)由 试验样品。依据文献 [3]，耳机连接器的接触对包 运行环境控制的性能因素；(2)由接触单元的生产制 括 ：MIC一麦克风；R一右声道 ；L一左声道 ；GND一 造性能决定的设计 一工艺因素。性能因素影响接触 (信号)接地。合格样品的MIC、R、L通道的接触 电 材料和接触表面膜的性质，接触区域发生的物理和化 阻要小于60m[~，GND通道的接触 电阻小于20ml~。 学反应过程，磨粒的构成，进而影响接触表面的状态， 样品确定合格后，依次编号。 最终影响触点的电阻可靠性。设计 一工艺因素对 电 对样品进行插拔寿命试验。利用插拔寿命试验 接触可靠性和质量的影响主要表现为：所选择的接触 机实现耳机插头和插座的插拔 ，以此模拟其正常使 材料，接触的几何形状，镀层的质量等等 J。目前，国 内常用的电接触材料主要有铜基触头材料、银基触头 材料和节银代银触头材料 。 本文以有线耳机为研究对象，结合影响电接触性 能的两类因素，对样品进行寿命及环境性能试验。反 映给定的几种耳机的电连接陛能情况。并得出影响其 电性能的主要因素，便于以后连接器材料选择及设计。 2 试验方案制定 低而稳定的接触电阻是可靠接触性能的一个重 图1 插拔寿命试验安排图 收稿 日期：2012—06—16 机 电 元 件 2012年 用的过程。6组样品分别插拔的次数依次为 1000～ 表 1 试验样品 6000次，如图1所示。 对样 品进行湿热循环试验 ，试验条件 ：相对湿度 93％，温度在 25~C、30~(3、65℃之间变化，每个周期 3．3 试验数据及数据处理 为期8小时，共循环 18个周期。如图2所示。 3．3．1 样品初选及接触 电阻初值 三种不同材料的样品重复上述过程。对试验后 (1)Ni—Ni／Au样品的接触电阻初值如图4所示。 的接触 电阻数据进行分析，结