spc统计过程控制概要1.ppt

SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 制定控制图判定准则的理论依据是正态分布原理。 大约2/3的描点会在控制限的1/3的区域内，即C区；有大约1/3的点则分布在中心线两侧2/3的区域内，即B区和A区。 SHIRONGWEI * SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 美国西方电气公司的质量控制手册提出控制图的8条判异准则，这些标准也被收入我国国家标准GB/T4091-2001。 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 1 ：一点超出控制限 分析：· 过程改变（原材料不合格、设备故障等） · 控制限或描点错误 · 测量系统误差 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 2 ：连续9点分布在中心线一侧 分析：· 过程改变（均值、极差变小或变大） · 测量系统改变 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 3 ：连续6点递增或递减 分析：· 过程随时间的变化趋势 · 测量系统改变 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 4：连续14相邻点交替上下 分析: （1）分层不够，可能混入了两个总体的 数据，或 （2）数据被编辑。 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 5：连续3点中有2点落在中心线的同一侧的B区以外 分析：通常表明过程均值发生变化，变异增大 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 6：连续 5点中有4点落在中心线同侧的 C 区以外 分析：通常表明过程均值发生偏移。 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 7：连续15点落在C区中心线上下 分析： （1）标准差变小（注意：这实际上是假象） （2）数据被编辑； （3）数据分层不够 SHIRONGWEI * 7.3 控制图的判异准则 准则 8：连续8点落在中心线两侧且无一在C区内 分析： 主要原因是数据分层不够。 SHIRONGWEI *  第八章 SPC改善策略 SPC改善策略 SHIRONGWEI * 统计过程控制的原则就是： 通过控制图 识别区分变异的特殊原因和普通原因—— 当过程仅存在普通原因时，不去干预它； 变差的特殊原因应当被识别并加以消除。 8.1 统计过程控制原则 SHIRONGWEI * 8．2．1 局部措施 --- 消除特殊原因 目的：获得并维持过程的稳定； 责任：现场人员，包括：现场主管、组长领班、作业员、检查人员等。 效应：大约可纠正15%的过程问题。就是说，现场人员责任占15%。 方法：简单的统计技术和工具，如运用操作员的技术和经验、小组会议、5M1E分析、层别法…… 措施举例：调整机器、更换刀具、新员工培训、控制供应商材料质量…… 8.2 局部措施和系统改进 SHIRONGWEI * 8．2．2 系统改进措施 --- 消除或减少普通原因 目的：提高过程能力； 责任：管理职责，包括：管理高层、部门经理、设计、工程部门、工程师、还有HR管理人员等。 效应：大约可纠正85%的过程问题。也就是说，过程改进主要是管理层的责任。 方法：高级统计技术，如DOE…… 措施举例：过程重新设计、改善机器性能、培训方法的改进、选择提供一致性材料的供应商、调整作业环境（如照明、湿度等）。 8.2 局部措施和系统改进 SHIRONGWEI * 系统改进效果的验证 在对系统采取措施后，过程工程师应对修改的过程绘制控制图并进行分析，以验证过程改进的效果： 在对过程实施改变时，应仔细地监视控制图，在该变化期间可能会使操作发生混乱，有可能造成新的控制问题，掩盖系统变化的真实效果。 在变化时期的所有不稳定因素都能解决后，应评价新的过程能力。 这种过程效果达到验证同样适用于章节8.3和8.4的情况。 8.2 局部措施和系统改进 SHIRONGWEI * 不同变异原因的特征及行动策略 变异类别 特殊原因 普通原因 特征 时有时无 持续作用于过程 对质量影响大 对质量影响微小 分布不稳定、结果不可预测 稳定的分布，输出可预测（包括质量、成本和产能） 改进成本低，方法简单 改进成本高，方法复杂 不难除去 难以除去 行动 策略 操作者 采取局部措施：识别并消除