E M I 测试的基本问题.DOC

E M I 測 試 的 基 本 問 題 前言　　　 隨著電子產品數位化的普及，各國也紛紛對電磁干擾的問題加以重視，在可以預見的未來，大部份的電子產品，在銷售到市場之前，都會被要求符合相關的EMI測試規格，而在EMI測試上的許多名詞與方法，一直缺少詳盡的說明與解釋。本文即針對在EMI測試上常會遇到的一些問題，提供讀者作一參考。 一?EMI要求測試的精確度為何？ 關於測試上的精確度，一般而言自然是要求達到精確，例如一顆石頭用不同的秤來秤，其結果是不會相差太大的，但是在EMI上的測試卻不同於一般的量測，往往同一個樣品在甲測試場地和乙測試場地所測得的結果值會有很大的差異，甚而在甲測試場地所測得的值可以符合限制值的要求，但乙測試場地所測得的值卻無法符合要求。關於這個問題，相信許多接觸過EMI測試的工程師都有這種經驗，因此便有某個實驗室較鬆或較嚴的說法產生，要清楚的說明這個問題，便需要了解EMI要求測試的精確度為何？由於大多數人一直沿用一般的測試觀念來看待EMI的測試，故而產生了許多誤解與人云亦云的說法。嚴格地來說，在EMI測試的要求上並沒有精確度的觀念，也就是EMI測試是無法要求每一個雜訊頻率點的讀值非常精確，那麼EMI測試的基本要求是什麼呢？這一點在早期的MP4中有很清楚的說明，輻射和AC電源傳導測量必須在一能確保有效的(valid)、可重覆的(repeatable)測試結果的環境下測量，事實上，這兩點是EMI測試上所要求的精確性。 所謂有效的是指所測得的雜訊確實是由待測物(Equipment Under Test)中所輻射出來的，而非外界或其它儀器所產生的。例如在開放測試場地(Open Site)測試輻射與傳導雜訊，因為外界的雜訊非常多，像FM電台、TV電台、火腿族或附近正在使用的一些電子產品，這些會與待測物的雜訊同時出現在頻譜分析儀(Spectrum Analyzer)上，若沒有仔細的判，可能會將外界雜訊誤認為是待測物產生的雜訊，那麼便失去了有效性的要求，而且也無甚意義，所以通常有經驗的EMI測試工程師會事先在屏蔽室(Shielded Room)或電波無反射室(Anechoic Chamber)內，將待測物的雜訊輻射頻率點找出，以避免產生錯誤，或將待測物的電源關掉，若此時雜訊仍然存在，則表示是外界所產生。若雜訊消失而再開電源雜訊又產生，則可確定該點之雜訊是待測物所產生，如果沒有經過這些方法的檢驗，則測試的結果可能是不正確的。 為使讀者能更快明瞭開放測試場地的雜訊，在圖1中所顯示的即是一開放測試場地在頻譜分析儀中所出現的雜訊，一般稱之為背景雜訊(Ambient noise)。 圖1 開放測試場地的背景雜訊 (一) E M I 測試方法與測試儀器 一.前言　　　 對於EMI的測試方法與測試儀器，許多剛接觸此種測試的人員常常不容易了解，由於對於電子產品要求EMI測試愈來愈普遍的情況下，本文即是針對尚未接觸或剛剛接觸EMI的工程人員，做一淺顯的入門介紹，以提供多數從事電子工程人員做為參考。二.軸射測試 電磁干擾可能透過二種途徑而干擾其它正在使用的電子產品，一種是直接輻射到空間，亦即由空中傳播，另一種則是經由公共電力線傳播。由空中傳播的即稱為輻射干擾，測量這些干擾的場強值便是輻射測試，一般測試要求的頻率範圍主要為30MHz到1000MHz，其測試方法如下圖： 通常在頻率範圍30MHz-1000MHz分成四支天線，在使用時須先確定所要測的頻率，然後調整天線的長度到其所要測頻率的半波長的位置(一般偶極天線皆會有不同頻率所對應的長度表，例如，30MHz時一邊的長度是調整為2.41m，此比實際2.5m要小一些，這是因為天線兩端的小突狀有電容效應，故比理論上要短，由於每測一個頻率必須調整天線長度一次，往往費時費力，故一般是用做終測(Final Test)時的讀值判斷，且由於其是依半波長共振的物理特性而設計，故在測試的可靠性及準確性較高。 (b)雙圓錐天線(Biconical Antenna)其形狀如下： 此和雙偶極天線所不同的是，使用雙偶極天線要依不同頻率調整不同的天線長度，而此天線則可適用20MHz-300MHz的頻率範圍，一般稱為寬頻帶(Broadband Antenna)，在使用上是比Dipole天線要方便許多，所以一般多用在產品的初測(Pretest)，可以快速瞭解在天線適用頻率範圍內有那些讀值較高。 (c)對數週期天線(Log Periodic Antenna)其形狀如下Ｎ： 　此和Biconal Antenna類似，也是屬於寬頻帶的天線，但是適用的頻率範圍不同，一般是使用在300MHz-1000MHz的測試，同樣地大部份是做為產品的初測使用。 (d)雙圓錐週期天線(Bi-Log Ant