GB4730超声波探伤标准.docVIP

GB/T4730-2005承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2 承压设备用钢锻件超声检测和质量分级 4.2.1 范围 本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。 本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料锻件的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80%的环形和筒 4.2.2 探头 双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150m2；单晶直探头的公称频率应选用2MHz～5MHz，探头晶片一般为14mm～25mm。 4.2.3试块 应符合3.5的规定。 4.2.3.1单直探头标准试块 采用CSI试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。如确有需要也可采用其他对比试块。 图4 CSI标准试块 表4 CSI标准试块尺寸 mm 试块序号 CSI-1 CSI-2 CSI-3 CSI-4 L 50 100 150 200 D 50 60 80 80 4.2.3.2 双晶直探头试块 a)工件检测距离小于45mm时，应采用CS标准试块。 b)CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。5 CSⅡ标准试块5 CSⅡ标准试块尺寸 孔径 检测距离L 1 2 3 4 5 6 7 8 9 CSII-1 φ2 5 10 15 20 25 30 35 40 45 CSII-2 φ3 CSII-3 φ4 CSII-4 φ6 4.2.3.3 检测面是曲面时，应采用CS标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺6所示。6 CSIII标准试块 4.2.4 检测时机 检测原则上应安排在热处理后，孔、台等结构机加工前进行，检测面的表面粗糙度R≤6.3μm。 4.2.5检测方法 4.2.5.1一般原则 锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横波检测。 4.2.5.2纵波检测 a)原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如图7所示。其他形状的锻件也可参照执行。 b)锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。为应检测方向； ※为参考检测方向。 图7检测方向(垂直检测法) 4.2.5.3 横波检测 钢锻件横波检测应按附录C(规范性附录)的要求进行。 4.2.6灵敏度的确定 4.2.6.1 单直探头基准灵敏度的确定 当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度，且探测面与底面平行时，原则上可采用底波3倍近场区时，可直接CSI标准试块确定基准灵敏度。 4.2.6.2双晶直探头基准灵敏度的确定 使用CSII试块，依次测试一组不同检测距离的驴3mm平底孔(至少三个)。调节衰减器，作出双晶 4.2.6.3 扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的矿2mm平底孔当量直径。 4.2.7工件材质衰减系数的测定 4.2.7.1 在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，(B1或B)为满刻度的50%，记录此时衰减器的读数，再调节衰减器，使第二次底面回波(B或)为满刻度的50%，两次衰减器读数之差即为(、)或(、)的dB差值(不)。 4.2.7.2衰减系数(3N，且满足，3N/T，m=2n)按式(1)计算: ……………………(1) 式中: ——衰减系数，dB/m(单程)； ——两次衰减器的读数之差，dB； ——工件检测厚度，mm； ——单直探头近场区长度，mm； m、n——底波反射次数。 4.2.7.3衰减系数(T≥3)按式(2)计算 ……………………(2) 式中: ——两次衰减器的读数之差，dB； 其余符号意义同式(1)。 4.2.7.4工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 4.2.8缺陷当量的确定 4.2.8.1 被检缺陷的深度大于或等于探头的3倍近场区时，采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对3倍近场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离一波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其 4.2.8.2 计算缺陷当量时，若材质衰减系数超过4dB/m，应考虑修正。 4.2.9缺陷记录 4.2.9.1记录当4mm的单个缺陷的波幅和位置。 4.2.9.2密集区缺陷:记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。饼形锻件应记录大于或等于4mm当量直径的缺陷密集区，其他锻件应记录大于或等于3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。 4.2.9.3底波降低量应按表6的要求记录。6 由缺陷引起底波降低量的质量分级 dB 等 级 I II ⅡI Ⅳ V 底波