电源ic 输入端的过应力分析 - richtek.pdfVIP

Application Note Roland van Roy AN048 – July 2016 电源IC 输入端的过应力分析 摘要 电源IC 的失效常常是其输入端受到电气过应力（EOS）的结果。本文对电源IC 输入端 ESD 保护单元的结构进行了 解释，说明了它们在受到 EOS 攻击时是如何受损的。造成 EOS 攻击事件的原因常常是热插入和导线或路径电感与 低 ESR 陶瓷电容结合在一起形成的瞬态效应。在系统设计中采用一些特别的设计可以避免 EOS 的发生，防范它们 可能带来的危害。 目录 1. 概述2 2. Buck 转换器输入端的结构2 3. ESD 和EOS 的差异3 4. 由于输入电压太高造成IC 失效的案例4 5. 电源热插入导致的输入端过应力7 6. 不同类型ESD 单元的击穿特性 10 7. 消除热插入期间电压尖峰的措施 11 8. 其他造成电源IC 输入端EOS 的原因 13 9. 用自制工具生成EOS 15 10. 总结 18 AN048 © 2016 Richtek Technology Corporation 1 电源IC输入端的过应力分析 1. 概述 在产品研发和生产过程中总是会出现一些 IC 损坏的现象，要想找出这些 IC 损坏的根本原因并不总是很容易。有些偶发性的损坏很难被重现，这时的 难度就会更大。有些时候 IC 的失效表现简直就是灾难性的，可能被烧得一 塌糊涂，对这样的状况进行分析就像要在完全烧成断垣残壁的房子里找出 火灾的原因一样，几乎就是不可能的事情。 立锜科技在长时间的工作中对大量用户的失效样品进行了分析。通过对损 坏的区域进行仔细的探查，有时候是可以对损坏元件进行准确定位的，这 对寻找类似失效的原因会有很大帮助。 在很多情况下，器件失效的原因都是输入电压太高了。 本文的后续章节将对Buck 转换器输入端的结构进行介绍，给出过高的输入 电压造成器件损坏的机制，通过不同的应用案例说明过高的输入电压是如 何发生的，还将提供相应的问题解决方案。 2. Buck 转换器输入端的结构 图1 显示了一个Buck 转换器IC 内部的基本构成，其中包含了几个静电释放（ESD）防护单元。 图1 电源输入端VIN 被一个很大的 ESD 单元保护着，其保护范围包括内部稳压器和 MOSFET，因而可以承受很高的静 电电压。SW 端子内部通常没有 ESD 单元，因为大型 MOSFET 本身就可以像 ESD 保护单元一样动作，静电电流可 经其体二极管流向GND 或VIN 端，也可利用它们的击穿特性实现保护。BOOT 端有一个 ESD 单元处于它和SW 之 间，其它小信号端子也各有一个小型的 ESD 单元，它们通常都和输入串联电阻一起保护这些小信号端子免受静电放 电的危害。 AN048 © 2016 Richtek Technology Corporation 2 电源IC输入端的过应力分析 在立锜的电源 IC 中，用于保护IC 端子的 ESD 元件的动作电压介于器件的击穿电压和绝对最高工作电压之间，这样 可避免它们在正常工作期间被触