半导体物理基础知识.ppt

1.8少数载流子和多数载流子 在掺有杂质的半导体中，新产生的载流子数量远远超过原来未掺入杂质前载流子的数量，半导体的导电性质主要由占大多数的新产生的载流子来决定，所以，在P型半导体中，空穴是多数载流子，而电子是少数载流子。在N型半导体中，电子是多数载流子，空穴是少数载流子。掺入的杂质越多，多载流子的浓度（单位体积内载流子的数目）越大，则半导体的电阻率越低，它的导电能力越强。 1.9平衡载流子和非平衡载流子 一块半导体材料处于某一均匀的温度中，且不受光照等外界因素的作用，即这块半导体处于平衡状态，此时半导体中的载流子称为平衡态载流子。 半导体一旦受到外界因素作用（如光照，电流注入或其它能量传递形式）时，它内部载流子浓度就多于平衡状态下的载流子浓度。半导体就从平衡状态变为非平衡状态，人们把处于非平衡状态时，比平衡状态载流子增加出来的一部分载流子成为非平衡载流子。 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 当引起非平衡载流子产生的外界因素停止后，非平衡载流子不会永久地存在下去。但也不是一下全部都消失掉，而是随着时间逐渐减少消失的，他们的存在时间有些长些，有些短些，有一个平均的存在时间，这就是我们所说的“非平衡载流子的寿命”。半导体内部和表面的复合作用是使得非平衡载流子逐渐减少直至消失的原因。 非平衡载流子也就是由于外界因素引起产生的电子—空穴对复合的主要方式有三种：直接复合，间接复合和表面复合。 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 1.10.1 直接复合 电子和空穴在半导体内部直接相遇放出光子或引起热运动而复合，复合的过程在是电子直接在能带间跃进，中间无须经过任何间接过程，这种复合称为直接复合。一般的杂质半导体寿命是和多数载流子的密度成反比的，或者说半导体的电阻率越低，则寿命越短。电阻率越低，多数载流子浓度越高，这种非平衡载流子就越有机会与多数载流子相遇复合，所以寿命就越短。 图1.10-1 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 1.10.2 间接复合 某些杂质元素即使是很少量地存在于半导体材料中便对材料的寿命数值有决定性的影响，晶体中的缺陷也有类似的作用，这说明晶体中的杂质原子和缺陷有促进非平衡载流子的复合作用。这种复合与直接复合不同，它是通过禁带中某些杂质（缺陷）能级做为“跳板”来完成的。 靠禁带中的杂质（缺陷）能级俘获导带中的电子与满带中的空穴在其上面间接进行复合的称之为间接复合，那些起复合作用的杂质（缺陷）能级被称为复合中心。复合中心是不断地起着复合作用，而不是起了一次复合作用就停止了。通过复合中心的间接复合过程比直接复合过程强得多。这是因为间接复合过程每次所要放出的能量比直接复合的要少，相当于分阶段放出能量，所以容易得多。因而间接复合过程大多情况下决定着半导体材料得寿命值。 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 图1.10-2 直接复合和间接复合都是在半导体内部完成得，所以也称为“体内复合”。 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 1.10.3表面复合 半导体表面吸附着外界空气来的杂质分子或原子，半导体表面存在着表面缺陷。这种缺陷是从体内延伸到表面的晶格结构在表面中断，表面原子出现悬空键，或者是半导体在加工过程中在表面留下的严重损伤或内应力，造成在体内更多的缺陷和晶格畸变，这些杂质和缺陷形成能接受或施放电子的表面能级，表面复合就是依靠表面能级对电子空穴的俘获来进行复合的。实际上表面复合过程属于间接复合，此时的复合中心位于半导体材料的表面。 1.10 非平衡载流子的复合及其寿命 半导体表面 表面复合 中心能级 E2 表面复合 图1.10-3 1.11载流子的漂移运动和迁移率 半导体中的载流子在不停地作无规则的热运动，没有固定方向的流动，所以半导体中并不产生电流。若在半导体两端加上一个电压，即半导体处于一个电场中，载流子在电场加速作用下，获得了附加的运动，这就称之为载流子的漂移运动。 实际的晶体中有杂质原子，缺陷，晶格原子也不停地振动。这些因素都使晶体中载流子的运动状态或运动方向不断发生变化，载流子运动方向不断发生变化的现象，称之为散射。 由于散射的作用，漂移运动是曲折前进的运动。 迁移率是衡量半导体中载流子平均漂移速度的一个重要参数，其数值等于在单位电场作用下电子和空穴的定向运动速度。因此，它反映了载流子运动的快慢程度。 载流子的迁移率随着温度，掺杂浓度和缺陷浓度变化。