透射电镜的技术进展.docVIP

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  • 2017-08-20 发布于北京
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透射电子显微镜原理及其技术进展 摘要:透射电子显微镜是一种新型高性能的大型检测仪器,是现代物理以及先进技术社会的产物,随着科技的发展,TEM的技术会更加先进,使用范围也更加广泛。本文在着重论述透射电子显微镜基本原理和结构以及应用的基础上,介绍透射电子显微镜的最新科学成果及其在未来的发展趋势,随着各种科学技术被应用于透射电子显微镜的制作工艺中,导致TEM的性能不断完善发展以及TEM与计算机技术的密切结合与应用。透射电子显微镜在各个领域中的应用。即透射电子显微镜在地质领域,材料科学及提高钢性能方面的应用,透射电子显微镜及相关技术在多相催化研究中的应用,并通过对其归类分析进一步说明了透射电子显微镜的应用。 关键词:TEM的基本原理;TEM 的新技术进展;TEM的用途 1 引言 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种现代综合性大型分析仪器,在现代科学技术的研究开发工作中被广泛地使用。透射电镜工作原理是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像,投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。由于显微镜的分辨率取决于所用光的波长,人们从本世纪初开始就尝试用波长更短的电磁波取代可见光来放大成像,以制造分辨本领更高的显微镜。1933年,德国人E. Ruska 制成了世界上第一台以电子作为“光源”的显微镜----电子显微镜,也即现在的透射电子显微镜

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