JH5007指导书(new第二部分)概要1.docVIP

实验五 集电极调幅与二极管包络检波 一、实验目的 进一步加深对集电极调幅和二极管大信号检波工作原理的理解； 掌握动态调幅特性的测试方法； 掌握利用示波器测量调幅系数ma的方法； 观察检波器电路参数对输出信号失真的影响。 二、实验仪器 40MHz双踪模拟示波器 一台 BT-3频率特性测试仪（可选） 一台 3、万用表 一台 三、实验原理与线路 1、原理 1.1集电极调幅的工作原理 集电极调幅是利用低频调制电压去控制晶体管的集电极电压，通过集电极电压的变化，使集电极高频电流的基波分量随调制电压的变化，从而实现调幅。集电极调幅利用了丙类放大器集电极调制特性，集电极调制特性可用图5.1表示。在过压区域，输出电压幅度Ucm与EC成正比。正是利用这一特点，可以通过控制EC的变化，实现电压、电流、功率的相应变化，实现集电极调幅。 图5.1 丙类放大器集电极调制特性 集电极调制电路中，晶体管应该始终工作在过压状态。把调制信号uΩ与直流电压ECO串联，使晶体管的集电极直流电压变成为EC=ECO+uΩ。通过EC的变化，控制Ico、Ic1m变化，从而实现调制， 1.2 二极管包络检波的工作原理 图5.2 二极管峰值包络检波器 包络检波方法是将单极性信号通过电阻和电容组成的惰性网络，取出单极性信号的峰值信息，这种包络检波器叫峰值包络检波器。最常用的是二极管峰值包络检波器，如图5.2(a)所示。图中输入信号us为AM调幅波，RC并联网络两端的电压为输出电压uo，二极管VD两端的电压uD=us-uo。当uD0时，二极管导通，信源us通过二极管对电容C充电，充电的时常数约等于RDC。由于二极管导通电阻RD很小，因此电容上的电压迅速达到信源电压us的幅值。当uD0时，二极管截止，电容C通过电阻R放电。若选取RC的数值满足 即电容放电的时间常数RC远大于载波周期TC，而远小于调制信号周期T。那么，电容C两端的电压变化速率将远大于包络变化的速率，而远小于高频载波变化的速率。因此，二极管截止期间，uo不会跟随载波变化，而是缓慢地按指数规律下降。当下降到重新出现uD0时，二极管又导通，电容又被充电到us的幅值；当再次现出uD0时，二极管再截止，电容再通过电阻放电。如此充电、放电反复进行，在电容两端就可得到一个接近输入信号峰值的低频信号，再经过滤波平滑，去掉叠加在上面的高频纹波，得到的就是调制信号。充放电过程如图5.2(b)所示。如电路设计不合理，峰值包络检波器会产生惰性失真和负峰切割失真: 惰性失真：为了提高电压传输系数和减少检波特性的非线性引起的失真，必须加大电阻R。而电阻R越大，时间常数RC越大，在二极管截止期间电容的放电速率越小。当电容器的放电速率低于输入电压包络的变化速率时，电容器上的电压就不再能跟随包络的变化，从而出现失真，如图5.3所示。在时间t1和t2间出现信号失真。 图5.3惰性失真 (2)负峰切割失真：检波器与下级电路级联工作时，往往下级只取用检波器输出的交流电压，因此在检波器的输出端串接隔直流电容CC，如图5.4所示。当负载网络两端的电压uAB≈Um0(1+macosΩt)时，相应的输出电流 IDo=I0+I1cosΩt 其中 ZL(0) 和ZL(Ω)分别为下级电路的直流电阻和交流电阻。因此，如果 就有可能出现I1I0的情况。 图5.4 二极管峰值包络检波 这种情况一旦出现，在cosΩt的负半周就会导致IDo0。在IDo0的范围内，二极管截止，负载网络两端的电压不可能跟随输入电压包络的变化，从而产生失真。这种失真由于出现在输出电压的负半周，所以叫负峰切割失真，也叫底部失真，如图5.5所示。 图5.5负峰切割失真 2、实验线路 本实验的原理电路图如5.6所示。 图5.6 实验电原理图 图中Q62为驱动管，Q61为调幅晶体管。晶体管Q62工作于甲类，Q61工作于丙类，10.7MHz载波信号由高频信号源从TPI61输入，CC62、C613与T63组成的调谐电路及CC61、C63与T61组成的调谐电路调谐在10.7MHz载波频率上。调制信号从TPI63处输入，D61为检波二极管，R63、R64、R65为检波器的直流负载，C66、R63、C67组成低通滤波器，C610为耦合电容，R67、R66、R610为下级输入电阻。 三、实验内容 1、调整集电极调幅的工作状态。 按下K61，调W61使Q61的静态工作点为UEQ＝1.2V（即R612旁焊盘的电压）。用频率特性测试仪测试电路，调节T63、T61的磁芯及可调电容CC61、CC62分别