第8章原子吸收光谱分析.pptVIP

8.4 定量分析方法 1. 标准曲线法 配制一系列不同浓度的标准试样，由低到高依次分析，将获得的吸光度A数据对应于浓度c作标准曲线： A = lg(I0/I) = kcL 在相同条件下测定试样的吸光度A数据，在标准曲线上查出对应的浓度值。 注意在高浓度时，标准曲线易发生弯曲。向浓度轴弯曲(负偏离)由自吸、压力变宽等影响所致；光谱干扰(背景干扰)引起正偏离。 2. 标准加入法 取若干份体积相同的试液(cX)，依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液(cO)，定容后浓度依次为： cX ， cX +cO ， cX +2cO ， cX +3cO ， cX +4 cO …… 分别测得吸光度为：AX，A1，A2，A3，A4……。 以A对浓度c做图得一直线，图中cX点即待测溶液浓度。 该法可消除基体干扰；不能消除背景干扰(可扣背景空白)。 8.5 干扰及抑制 1.光谱干扰及消除 主要指待测元素的共振线与干扰物质的谱线分离不完全对元素测定产生的干扰。多来自光源和原子化装置。 主要包括以下几种： (1) 在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的其他谱线 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰； (2) 空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射 换用纯度较高的单元素灯减小干扰； (3) 灯的辐射中有连续背景辐射 用氘灯扣背景或塞曼效应扣背景。 (3) 背景(光谱)干扰 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰。 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 产生正偏差。 石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重。 背景干扰校正方法 氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰。连续光谱通过时，测定的为背景吸收；共振线通过时，测定总吸收；差值为有效吸收。 塞曼效应背景校正法 原子化器加磁场，在磁场作用下共谱线发生裂分。随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；差值为有效吸收。 优点：校正能力强；可校正波长范围宽：190～900nm。 2. 物理干扰及抑制 试样在转移、蒸发过程中的物理因素变化引起的干扰效应。主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液的组成(基体)尽量一致的方法来抑制。 用稀释试液及标准加入的方法可消除此类干扰。 3. 化学干扰及抑制 指待测元素与其他组分之间的化学作用所引起的干扰效应。主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 (1) 化学干扰的类型 待测元素与共存物质作用生成难熔、难挥发化合物，使基态原子数减少。改变火焰类型(如用富燃火焰)可适当消除。 例：a. 铝、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b. 硫酸盐、硅酸盐、氧化铝与钙生成难挥发物 待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收。 电离电位≤6eV的元素易发生电离。火焰温度越高，干扰越严重（如碱及碱土元素）。 (2) 化学干扰的抑制 在标准溶液和试液中加入某些化学试剂可抑制或减少化学干扰： 消电离剂— 加入大量易电离的元素以抑制待测元素的电离。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。 控制火焰温度，用貧燃火焰。 释放剂— 加入过量某种试剂与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 保护剂— 与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。 例：加入EDTA生成易原子化的EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 缓冲剂— 加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mg/L以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 1．分析线 通常选择待测元素的共振线作为分析线，测量高浓度元素或有干扰时，也可选次灵敏线。 2．空心阴极灯电流 在保证有稳定和足够辐射光通量的情况下，尽量选择较低的灯电流。 3．火焰 火焰的选择和调节是提高原子化效率的关键之一。应依据不同试样元素选择不同火焰类型。 4．燃烧器高度 不同元素的基态原子浓度随火焰高度的分布不同。调节燃烧器高度，可使光源通过待测原子浓度最大的火焰区，提高检测灵敏度。 5．狭缝宽度 无邻近干扰线(如测碱及碱