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铁电极化调控SnSe 薄膜光电性质研究 - 哈尔滨工业大学学报
第48卷 第 11期 哈 尔 滨 工 业 大 学 学 报 Vol48 No11
20 16年11月 JOURNAL OF HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY Nov. 2016
doi:10.11918/ j.issn.0367⁃6234.2016.11.001
铁电极化调控 SnSe薄膜光电性质研究
1,3 2 2 2 1
宋 波 ,韩杰才 ,郝润豹 ,李加杰 ,王先杰
(1.哈尔滨工业大学 理学院,哈尔滨 150001;2. 哈尔滨工业大学 航天学院,150001哈尔滨;
3.哈尔滨工业大学 基础与交叉科学研究院,哈尔滨 150001)
摘 要:利用脉冲激光沉积(PLD)技术在铌酸锂基片上沉积SnSe 薄膜,研究了不同极化方向的铁电基片对SnSe 薄膜光电性
质的影响. 控制PLD沉积时间,在铌酸锂基片上沉积出不同厚度的SnSe 薄膜.X射线衍射和X射线光电子能谱的结果显示制
备了高取向的单相SnSe 薄膜. 薄膜横截面高分辨透射电镜结果显示了薄膜具有较高的结晶质量. 在无光照情况下,当铁电极
化方向指向薄膜时,极化场可向SnSe 薄膜中注入电子,使p 型SnSe 薄膜的电阻增加;当极化方向背离薄膜时,极化场可向
-
SnSe 薄膜中注入空穴,使p 型SnSe 薄膜的电阻降低. 当用仅能使SnSe 薄膜发生电子 空穴分离的632nm激光照射时,不同极
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化方向的样品都表现出光电导增加的现象. 当用405 nm激光照射时,不同极化方向的铌酸锂与薄膜界面处发生的电子 空穴
分离使SnSe 薄膜表现出完全不同的光电导效应. 利用能带模型解释了不同铁电极化方向的铁电基片对SnSe 薄膜光电导性质
调控的机理.
关键词:铁电极化;铌酸锂;SnSe 薄膜;光电调控;脉冲激光沉积
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中图分类号:O472 .8 文献标志码:A 文章编号:0367 6234(2016)11 0001 06
Optoelectric properties of SnSe thin⁃film regulated using ferroelectric
polarization substrate
1,3 2 2 1 1
SONG Bo ,HANJiecai ,HAO Runbao ,LI Jiajie ,WANG Xianjie
(1. School of Science,Harbin Institute of Tech
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